API：测试中的CONNECT连接与DISCONNECT断开连接

对于电器设备，都有打开与关闭的控制，在芯片测试中虽然没有这样的开关，但测试系统会有打开与关闭的API来实现这样的功能。在ATE测试过程中，“CONNECT”就相当于“打开”的作用，“DISCONNECT”就相当于“关闭”的作用，但它不仅仅是打开与关闭电源，还有其它测试资源的控制，了解这两种API的具体作用，对芯片测试的控制将会有更深的理解和更灵活的应用。
1、CONNECT：
CONNECT指测试资源与被测器件DUT建立连接，执行这条语句时，硬件会执行以下动作：
1）AC relay打开，使Driver与DUT器件相连；
2）电源开关打开，ATE机台向DUT器件供电；
3）Sequencer进入break保持状态，CLOCK打开，向DUT加载“break waveform ”；
语法：CONNECT（）；
大多数测试项，在执行测试前均需要先执行这条语句，例如：功能测试（FunctionalTest）、漏电流测试（Leakage）、输出高低电平测试（OutputDC）等。

 

2、DISCONNECT：
DISCONNECT指测试资源与被测器件DUT断开连接，执行这条语句时，硬件会执行以下动作：
1）电源关闭，ATE机台停止向DUT供电；
2）将模拟模块与POGO PIN断开；
3）将数字通道与POGO PIN断开；
4）Sequencer进入OFF状态,Sequencer和 clock关闭， 所有的PIN进入高阻Z态。
语法：DISCONNECT（）；
少数测试项，在执行测试时需要先执行这条语句，例如：连通性测试（Continuity）。