4054充电芯片经常烧坏？Type-c口的烧坏充电芯片如何去解决

      4054是一款常用的锂电池充电管理芯片，广泛应用于各种电子设备中。然而，有时候4054会出现经常烧坏的情况，故而让客户对我们的产品质量产生的担忧。特别是现如今快充的时代到来，快充头的使用，出现了更多4054烧坏的现象。

4054的常规参数如下：

输入电压：4.2V—6.5V
充电电压4.2V±0.5%
高达 600mA 的可编程充电电流
自动再充电充电状态输出引脚
C/10 充电
终止停机模式下的供电电流为 55uA
2.9V 涓流充电
软启动限制浪涌电流
SOT23-5 封装

4054常见故障原因

1. 过载或短路：如果电路中负载过大，或者出现短路，会导致4054芯片发热严重，甚至烧坏。
2. 电源异常：输入的电压瞬间浪涌过大，现如今C口的广泛使用，出现的常规线和快充充电线混合使用的情况，导致部分产品在快充头和快充线的使用上，经常烧坏的情况，目前快充协议上面来说：5V/3A、9V/2A、12V/1.5A的状态下，芯片烧坏的可能性也比较大。
3. 元件老化：如果使用时间过长，或者工作环境温度过高，会导致4054芯片内部元件老化，性能下降，容易烧坏.
4.部分4054芯片内阻大，当电池的电压比较低的时候，4054的的充电电流会比较大，此时4054的发热量也会上升的比较快。

4054经常烧坏的解决办法
1.选择合适的适配器：搭配的时候不要采用快充线、快充头的。
2.画PCB图的时候：电容尽量靠近芯片，尽量不要省掉输入和电池的电容，防止波纹太大，烧坏芯片
3.散热设计：合理设计电路的散热系统，保证电路在工作时能够及时散热，防止过热烧坏芯片。

对于适配器而言，客户可能考虑得没有那么多，这个时候可能就需要一些外围的元器件或者更换新的4054芯片
例如：在输入口处加个OVP保护芯片OV2210，6.1V的过压保护电压、1.5A的过流保护。SOT-23的小封装芯片，可以有效的防止输入过压。
或者更换4054芯片，换成VD4054H，耐压30V，带有6.9V的过压保护功能、带防反接功能，可以直接替代4054芯片。
或者更换VD4064芯片，支持12V的耐压，支持高压充电，即使在9V的情况下也能正常充电。
这些芯片都能有效的防止客户使用不当得充电器的情况下，做出的有效保护。

 

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