IVI touch

touch 系统架构

1）touch panel和touch IC之间的TX和RX个数是由touch panel的大小，touch sensor个数以及报点坐标的分辨率决定的，前提也是touch IC能够支持这些TX和RX总线的数量；touch IC在idle 的状态也通过RX和TX判断touch panel上的sensor状态，一般情况下，读取sensor的raw 打他差异性越小越好，表示平整度很好，每个区域的性能一致性比较优良。TX的脉冲周期可以理解为touch IC的扫描频率，一般有8ms或者25ms等，我们可以用一个硬币和示波器，并且把信号的放大倍数调到最大，可以同示波器的探针测试touch IC的扫描频率，可以通过是否有扫描频率判断touch IC是否在正常的工作状态。

2）MCU和touch IC之间的IIC通信，MCU是master， touch IC是slave，MCU可以主动的读取touch IC的版本信息，配置信息，raw data，delta data，可以进行自检功能，当手指触摸屏幕时，touch IC会收集touch panel的电容变化信息进行算法处理，并把这些处理的touch信息用特定格式的报文信息存储在RAM中，并且通过拉中断的方式，让MCU以最快的速度读取touch IC的报文信息，MCU中 touch driver的开发是针对特定的touch IC进行开发的，是可以移植的和可配置的，touch的App是针对主机端的所需的touch的功能需求进行开发的，会根据不同的主机，存在差异，主要的功能就是把touch IC的touch 报文信息转换为主机端能够识别的touch 信息的报文。

3)主机端和MCU直接通过CAN信号或者LVDS进行touch信息的传输，一般主机端会沿用安卓的touch相关的组件对touch 的报文信息进行处理，处理完之后，会通知主机的HMI进行有关的界面进行切换。touch 的信号是通过中断和LVDS的IIC back channel进行传输的。

touch子系统的相关测试

1） EMC测试，测试是否在某些频率和场强下，出现鬼点或者touch失效。

2）touch的性能测试：包括精确度，线性度，灵敏度，二指分离度等。

3）鲁棒性测试：手套模式，湿度测试，温度测试（正常功能，raw data）。

4）产线的自检测试：这个功能主要是touch IC支持实现，一般ASIL-B级别，可以识别touch panel的错误，比如sensor的虚短，虚断；可以识别touch IC的看门狗错误，电路的增压错误，静电造成的IC异常问题；噪声造成的touch 异常；检查sensor的raw data是否在芯片的要求范围内等等。尽量保证我们的产品在出厂前，所有的touch的组件都是完好的，功能也是正常的，出现任何的异常，都能够在产线端进行拦截，进行分析找到根本原因。

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