论文来源:https://ieeexplore.ieee.org/document/9538833
摘要
文章介绍了在混响室(RC)内进行的从背散射系数测量中估算天线增益模式的方法。天线的背散射系数在两种负载条件下进行测量,即开路(OC)和 50 Ω 负载,从而能够将辐射模式和结构模式从总的背散射场中区分开来。该方法被应用于在 6.5 GHz 下测量 Vivaldi 天线的增益模式,并与在无回声室(AC)内进行的传统传输型测量进行了比较。两种测量方式下辐射模式的主瓣一致性较好。通过使用金属板的参考测量后,最大增益的差异为 0.04 dB。第二次验证使用了在 3.5 GHz 下的对数周期天线,显示在测量的角度范围内差异小于 0.76 dB。据我们所知,这是首次在混响室内进行并验证的无接触增益模式测量。
一、研究背景
增益和辐射模式是通常通过传输型测量评估的关键天线特性。这种测量方法涉及到将激励电缆连接到被测试天线(AUT)上,属于侵入性设置。在电气小型天线的情况下,电缆的存在可能会干扰天线近场区域的阻抗和辐射特性,从而导致不准确的结果。文献中报告了两种主要的解决路径:第一种是通过添加铁氧体、四分之一波长套管或平衡变压器(balun)来限制电缆的影响,或者通过先前的电磁仿真来补偿电缆的影响,第二种则旨在避免使用这些连接到AUT的激励电缆。受到雷达散射截面(RCS)测量的启发,这种方法依赖于天线背散射特性的表征,以无接触或非侵入的方式获取其辐射特性。
天线散射特性的研究最早由King于1949年进行,自那时以来,检索天线参数的方法一直受到关注。天线背散射的场包括两个分量:结构模式,表示天线作为一个简单物体的情况;以及辐射模式,也称为天线模式,表示接收到的场通过天线的端口转发并根据阻抗失配再次辐射。仅需考虑辐射模式以获取天线的辐射特性。区分这两种模式的方法基于负载变化的方法,通常使用长度变化的传输线或离散负载阻抗。
传统上,RCS测量在模拟自由空间环境的无回声室(AC)中进行。混响室(RC)最近成为RCS测量的可靠替代方案。然而,到目前为止,所有在RC中进行的RCS测量仅考虑了简单的金属目标,如平板或二面角。
二、测试结果
图1 测试场景演示说明.
在6.5 GHz下,通过RC中的无接触方法测量的增益模式,并与在AC中使用传统传输设置测量的增益模式进行了比较。两者的主视增益非常相似:RC无接触方法为11.57 dB,而AC设置为11.61 dB;半功率波束宽度也非常接近:RC无接触方法为37.8°,AC设置为37.9°。在两种测量方式下,主瓣的表现一致,特别是在 ∣θ∣<30°时,两者之间的差异小于0.70 dB。然而,在 ∣θ∣>50°的情况下,由于信号与干扰的比率非常低,使用无接触RC设置的副瓣表现不佳。可以通过使用其他类型的模式搅拌来提高这一比率。
三、验证测试
对前述增益模式测量方法在第二种天线——即对数周期天线(Schwarzbeck VUSLP 9111-400)上进行了验证,频率范围为3–4 GHz,使用了与前次测量相同的设置。由于实际操作中对天线支撑的限制,角度范围被限制在θ=−32°到θ=32°,步长为1°。与之前的测量一样,选择了围绕中心频率的1 GHz频率窗口进行正弦回归。
对数周期天线的增益模式与在3.5 GHz下的传输型AC测量结果进行了比较。两者结果良好一致,对于 ∣θ∣<30°,最大差异为0.76 dB,平均绝对差异为0.31 dB。由于未进行校准测量,所有测量结果已按数据表提供的最大增益进行了归一化。
总结
在这项研究中,首次通过在混响室(RC)中测量的背散射系数评估了天线增益模式。通过对两种负载条件(开路(OC)和50 Ω负载)进行测量,提取了AUT背散射系数的辐射模式。这一方法在一个19立方米的RC中进行了验证,使用了6–7 GHz频段的Vivaldi天线和3–4 GHz频段的对数周期天线。所有测量的主瓣与在无回声室(AC)中进行的传统传输型测量结果良好一致(Vivaldi天线的最大差异为0.70 dB,对数周期天线为0.76 dB)。此外,最大增益也得到了很好的提取(Vivaldi天线的差异为0.04 dB),这得益于使用金属板进行的校准。