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RSS订阅原创 IC测试-CP测试中运用到的pattern简介
IC在CP测试阶段有一个最直接有效的测试手段就是利用pattern来实现相应的测试功能，pattern不仅能承载测试指令，也能作为庞大测试数据的载体。pattern文档从实质上来说就是一串很长的二进制码，不管是文件中所用到的1和0，还是P和N，代表的都是映射到硬件上的驱动高电平或者驱动低电平，用pattern测试的实质也就是通过这些二进制符号组合成符合IC设计需求的时序波形下发给IC和驱动IC的IO状态或者去compare IC的某一IO的某时刻的高低状态，以实现控制IC动作或与IC交互传播数据等功能...
2022-06-21 18:16:28
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空空如也
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