IC测试-CP测试中运用到的pattern简介

        IC在CP测试阶段有一个最直接有效的测试手段就是利用pattern来实现相应的测试功能，pattern不仅能承载测试指令，也能作为庞大测试数据的载体。很多人习惯将pattern翻译为“向量”，我更喜欢将pattern理解为适应IC设计的时序波形，下面简单介绍下pattern到底是什么东西以及其作用。

        pattern文档从实质上来说就是一串很长的二进制码，不管是文件中所用到的1和0，还是P和N，代表的都是映射到硬件上的驱动高电平或者驱动低电平，用pattern测试的实质也就是通过这些二进制符号组合成符合IC设计需求的时序波形下发给IC和驱动IC的IO状态或者去compare IC的某一IO的某时刻的高低状态，以实现控制IC动作或与IC交互传播数据等功能。对于interface口来说，pattern就是与IC交互的平台；对于普通IO口来说，pattern是IO口的驱动源或者compare状态的平台。总之，pattern不仅可以用来与IC进行通信，还可以实现对IC的IO口的驱动以及采样和对比状态等。总的来说pattern就像一段波形，其速度、时序、状态、delay时间等，都可以随意编辑，对于IC测试来说不可或缺。

        虽然不同机台的pattern格式都有所差异，但是其原理都是大同小异，都是为测试而做的由机台解释并实现的满足IC某一功能的时序和驱动状态的测试工具。可以实现众多的测试功能，降低测试成本。