超快光学实验-自相关法测量超短激光脉冲

自相关法-间接测量方法

主要光路：迈克尔逊干涉光路；

实验过程：

待测激光被一分为二后，将其中一束引入延迟，再将两束激光合并，用经过延迟的这束激光对未经延迟的那束激光进行扫描。合并后的激光束借助倍频晶体产生二阶非线性效应。均匀改变相对延迟量，即可得到强度变化的二阶相关信号以及脉冲自相关结果。通俗一点讲就是利用光速，将极短的无法测到的脉冲时间量转化成不那么短并且可以测到的空间延迟距离量，这样就可以测量到皮秒激光脉冲宽度，甚至是更短的飞秒激光脉冲宽度了。因此自相关法是当前主流的皮秒、飞秒激光脉宽的测量方法，自相关仪就是利用自相关法测量超短脉冲激光脉宽的测量仪器。

根据工作方式的不同，脉冲自相关技术可分为强度自相关和干涉自相关，强度自相关又可分为有背景（共线）和无背景（非共线）测量。由于强度自相关法基于入射光的强度表达式推导出的自相关信号平均强度信息，因此往往采用步进电机位移台推动光学延迟线逐点获取自相关信号。干涉自相关法基于入射光的波动（电场）表达式推导出包含相位信息的自相关信号，因此往往采用扫描速度更快的音圈或压电扫描台来推动光学延迟线。根据上述区分，也会把强度自相关仪称为“慢扫自相关仪”，干涉自相关仪称为“快扫自相关仪”。

无论何种自相关仪，基础的光路构架都是“迈克尔逊干涉”光路，内部器件的位置及扫描运动全程的导光姿态，都在仪器生产过程中调校完毕，使用者只需要将待测激光束导入自相关仪的入光口，且从指定的限位口出射就可以。当然待测光束自身强弱不等，适当的衰减以及符合仪器要求的入射偏振方向是必须做到的。剩下的就可以交给仪器的软硬件系统，通过内部的扫描过程，得到测量结果。

无论是强度自相关仪还是干涉自相关仪，只适用于测量高重复频率激光脉冲，如MHz或KHz，对于低重复频率，如10Hz甚至是单次超短激光脉冲就无法测量了。面对这种低重频测量需求，要使用单次自相关仪，也就是第三种自相关仪的类型。被分成两束的飞秒脉冲抵达倍频晶体的微小时间差通过两个脉冲在空间中叠加部分的“相关性”强弱体现出来，重塑出了时间尺度的脉冲宽度信息。