实验五 汉字字库实验(Logisim)

1、实验目的

理解存储系统进行位扩展、字扩展的基本原理,能利用相关原理解决实验中汉字字库的存储扩展问题,并能够使用正确的字库数据填充。

2、实验内容

现有如下 ROM 组件,4 片 4K32 位 ROM ,7 片 16K32 位 ROM,请在 Logisim 平台构建 GB2312 汉字编码的 1616 点阵汉字字库,电路输入为汉字区号和位号,电路输出为 8×32 位( 1616=256 位点阵信息),待完成的字库电路输入输出引脚见后图,具体参见工程文件中的 storage.circ 文件,图中左侧是输入引脚,分别对应汉字区位码的区号和位号,中间区域为 8 个 32 位的输出引脚,可一次性提供一个汉字的 256 位点阵显示信息,右侧是实际显示区域,用于观测汉字显示是否正常。待完成字库子电路封装已经完成,请勿修改以免影响后续自动测试功能。
电路引脚
在这里插入图片描述在这里插入图片描述

3、方案设计

设计思路:由实验已给出的电路框架可知,我们需要完成的任务是用空白框上方四块ROM芯片进行扩展来代替空白框内的电路。根据实验要求,将4片4K32位的ROM通过字扩展成一片16K32位的ROM。由于是字扩展所以要将4片4K32位ROM并联。然后将每个ROM芯片的数据端与多路选择器的数据端相连。又因为电路框架中已给出的地址线的位数是14位,而ROM的地址位宽是12位,所以要将低12位通过分线器引出,并联到4个ROM的地址端。高两位连接到多路选择器的选择段。此外由于题目中说明ROM芯片set端低电平输出高阻。所以要将4片ROM芯片set端连接常量1。

实验电路图
在这里插入图片描述

4、实验步骤

  1. 读题干,弄清实验目的和实验内容
  2. 思考4片ROM应选择什么样的扩展方法。
  3. 连接电路
  4. 测试与调试

5、故障分析

由于电路连接完成后忘记从参考字库中复制字库,所以在测试时发现没有任何输出。
在这里插入图片描述
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字库复制完成后,测试成功
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6、心得体会

通过本次实验的学习,我对ROM芯片的字扩展有了更加深入的理解。也能够利用相关原理解决实验中汉字字库的存储扩展问题,并能够使用正确的字库数据填充。

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