【仪器仪表专题】案例：测试充电芯片保护时间测试10小时后电子负载自动下线是为什么？

测试充电芯片保护时间有两种办法，一种是使用真实的电池让充电芯片一直充电（可以通过降充电电流、修改时间参数或是并电池增加容量的方式）。另一种是使用电子负载的CV模式模拟电池（需要增加一个芯片NTC电阻来避免充电芯片发生NTC错误）。

为了最完整的还原这个过程，我采取第一种方式，但是在这里将测试方法做了改进：

不使用电池并联、修改时间参数或降充电电流的方式。而是使用电子负载接在电池上进行放电，充电仍然正常进行。如下图所示：假设充电电流为1A，那么设置电子负载电流为1A，这样刚好抵消了充电芯片对电池充电的电流，电池电压不会抬升。

但实际按这样的方式测试后发现10小时后电子负载自动掉线了，芯片全力给电池充电，很快就充到了满电电压8.4V，导致无法测试出充电芯片保护时间。

那么为什么呢？电子负载为