如何用数字源表快速表征二维材料电性能参数？

源于超薄的厚度引起的量子限域效应，使得二维材料在透明电极、光电探测器、气敏电阻、太阳能电池等领域得到广泛应用。霍尔效应及电阻率是表征纳米材料电性能的重要手段之一。

测试面临的挑战

电阻率及霍尔效应测试均是加流测压的过程，需要设备具备电流源以及电压表的功能。

不同种类的材料，电阻范围超宽，从mQ~GQ;

材料的电阻率及电子迁移率通常范围较大，需要设备具备的电流范围大。

数字源表基本功能

集多种功能为一体的精密测量仪器，主要是测量电气性能

SMU可以当电源,万用表或电源/测量组合.

当电源时：

可编程电压源

可编程电流源

当万用表时：

数字电压表(电流源,输出电流为0,测电压)

数字电流表(电压源,输出电压为0,测电流)

数字欧姆表(电流源,输出电流为一定值,测电压)

当电子负载时：

可编程恒压负载

可编程恒流负载

当电源/测量表组合（SMU）：

电压源与电流测量

主要应用在哪些场景

分立器件特性测试：电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管

BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等器件；

能量与效率特性测试：LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器；

传感器特性测试：电阻率、霍尔效应等；

有机材料特性测试：电子墨水、印刷电子技术等；

纳米材料特性测试：石墨烯、纳米线等；

激光器特性测试：窄脉冲LIV测试系统；

功率器件：静态测试系统；

电流传感器：动静态参数测试系统；