在某种设备中使用了如下电路,CPU通过串行配置74HC595,74HC595每两个一组,由通过磁珠隔离的3.3V供电。这些设备用了十多年后,开始陆续出现故障,故障原因为74HC595失效,失效位置出现在 A1、B1、C1这三个位置之中的一个、二个或三个。
根据该电路结构和故障特征,初步判断应为各级电压偏差导致对各组第一个芯片的输入级造成损伤。经测量,各电压上电波形完全一样,电压也无偏差。因此可以推定,可能芯片在某种特定条件下,前级输出与后级电压出现严重不匹配而损坏了后级的输入端子。这种特定条件可能是感应雷事件或者一个快速的电压阶跃,在电源上耦合了一个电压,而磁珠隔离这个电压变化,从而导致前后级的输出不匹配从而损坏后级的输入。
大家的意见呢?