嵌入式开发：硬件在环测试

　　

　　硬件在环 (HIL) 测试在目标微控制器上运行测试用例代码，而不是使用模拟软件层作为硬件。对嵌入式开发人员来说，HIL测试对于验证来自 HAL 的硬件访问是否按预期工作非常有用，甚至可以测试系统的所有输出是否按预期工作。下图显示了HIL设置的示例。

　　

 

　　硬件在环 (HIL) 测试可以包含几个不同的组件。首先是被测设备，通常称为 DUT。DUT 将访问对验证系统是否正常工作至关重要的信息，例如：

　　• 微控制器寄存器值

　　• 引脚 I/O 状态

　　• 沟通渠道

　　• 产品与来自传感器、执行器等的信号相关

　　现在，开发人员可以检查并手动监控这些信号，但这将是一个非常耗时的过程。相反，开发人员可以构建他们的HIL测试工具来包含能够自动采样期望状态的工具。

　　这就把我们带到了第二个组件：调试器。测试控制器使用调试器来将应用程序和测试代码加载到目标微控制器上，而且还通过调试器通信端口来控制这些测试。大多数现代调试器充当虚拟通信端口，嵌入式开发人员可以用最少的软件创建测试命令控制通道来管理微控制器。控制器可以请求遥测、记录值，甚至监控软件跟踪和事件历史。

　　接下来，开发人员通常会有一个与产品交流的渠道。例如，如果产品是汽车产品，那么可能会有产品响应需要测试的CAN消息。另一个例子是具有通信端口的设备。无论通信接口是什么，都需要有一个工具可以将通信转换成测试脚本可以控制的comm端口。