I2C eeprom调试经验

在写本文之前我不得不痛批ST的comtex-M3的I2C做得实在是太烂了！就这样一个简简单单的I2C，需要无数多的配置，无数多的寄存器，无数多的标志位，难道ST的目标就是把简单的东西复杂化么？复杂了就难用。另一方面，ST官方给的I2C eeprom例程中while死等的语句比比皆是，本来I2C就做得复杂，还四处布满死等代码，很容易在使用中让系统死机。

言归正传，前边的抱怨也是我调试I2C的起因。查过很多资料，普遍对于STM32I2C的在产品(不是实验室)中的使用表示需要谨慎，陷阱很多，bug很多。前前后后折磨了我估计有一个月吧，心里始终觉得官方的东西应该还是要好点，所以一直将就官方的代码在用，直到我的系统莫名奇妙的死机，究其原因是I2C操作引起为止，终于下定决心还是用模拟I2C。

目标平台是STM32C8T6+atmel的eeprom,通信总线为串行I2C总线。

调试过程遇到的问题：

1.字节写操作正常，但是字节读函数出错

原因：一厢情愿的认为写eeprom是在七位器件地址后添加写标志，则读eeprom也应该在七位期间地址后添加读标志，而事实上读eeprom也是在七位地址后添加写标志。

2.断续单字节读写正常，但是采用连续的单字节读写出错。