吉时利Keithley 4200-SCS半导体参数分析仪

吉时利(Keithley)4200-SCS半导体特性分析系统主要特点及优点直观的、点击式Windows操作环境独特的远端前置放大器，将SMU的分辨率扩展至0.1fA用于高级半导体测试的新型脉 冲与脉冲式I-V功能集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储独特 的浏览器风格的软件界面，根据器件的类型来安排测试， 可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能内置了Stress/Measure，循环和数据分析功能，通过鼠标点击方 式就可进行可靠性测试，包括5个JEDEC规范的样品测试支持 Keithley590 型与 Agilent 4284/4294型C-V仪、Keithley开关矩阵与Agilent 81110脉冲发生器等多种外围设备硬件由Keithley交互式测试环境（KITE）来控制，用户测试模块功能，可用于外接仪表控制与测试平台集成，是KITE功能的扩充包括驱动软件，支持 CascadeMicrotech Summit 12K系列、Kar