吉时利4200-SCS半导体参数分析仪keithley4200A-SCS参数分析仪
产品概述KEITHLEY 4200-SCS
Keithley 4200-SCS 半导体特性分析系统可执行实验室级直流和脉冲器件特性分析、实时绘图和分析,具有高精度和亚飞米至安培分辨率。Keithley 4200-SCS 提供全集成特性分析系统中最先进的功能,包括一台完整的嵌入式 PC,配有 Windows 操作系统和大容量存储器。其自文档化、点击式界面可加快和简化数据采集过程,因此用户可以更快地开始分析结果。其他功能可实现适用于各种可靠性测试的应力测量功能,并通过 LCR 仪表支持提供精确测量和高分辨率。
Keithley 4200 系统的功能包括:
- 直观的、点击式的基于 Windows 的环境
- 独特的远程前置放大器将 SMU 的分辨率扩展至 0.1fA
- CV 仪器使 CV 测量变得像 DC IV 一样简单
- 脉冲和脉冲 IV 功能,适用于先进的半导体测试
- 示波器卡提供集成的示波器和脉冲测量功能
- 独立的 PC 提供快速的测试设置、强大的数据分析、绘图和打印以及板载海量存储测试结果
- 独特的浏览器样式项目导航器按设备类型组织测试,允许访问多个测试,并提供测试排序和循环控制
- 内置压力/测量、循环和数据分析,用于点击可靠性测试,包括五个符合 JEDEC 标准的样本测试
- 集成对各种 LCR 表、Keithley 开关矩阵配置以及 Keithley 3400 系列和 Agilent 81110 脉冲发生器的支持
- 包括领先分析探测器的软件驱动程序