缺陷密度度量(DD) 是除了代码行(LOC)度量之外在业界应用最广的度量方法之一。缺陷密度度量定义如下: DD = Defects/(K)LOC Defects是缺陷的数目。 可以计算在产品集成测试期间的缺陷密度,系统测试期间的缺陷密度,产品发布一定周期内的缺陷密度。