软件缺陷密度的计算方法

最新推荐文章于 2021-09-24 11:16:00 发布
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  缺陷密度度量(DD) 是除了代码行(LOC)度量之外在业界应用最广的度量方法之一。缺陷密度度量定义如下：

DD =    Defects/(K)LOC   

Defects是缺陷的数目。

可以计算在产品集成测试期间的缺陷密度，系统测试期间的缺陷密度，产品发布一定周期内的缺陷密度。
achang21
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【研发效能】代码行数与千行代码bug率
本本本添哥
08-05 285
千行代码”通常是指在软件开发中编写或维护的代码量达到了上千行。这可以是单一文件的代码量，也可以是一个项目或模块的总代码量。在软件工程中，项目的规模往往用代码行数（LOC, Lines Of Code）来衡量，尽管这不是评估软件质量的唯一标准。在软件开发中，除了关注代码数量外，更重要的是代码的质量、结构和效率。良好的设计模式、代码复用、自动化测试和持续集成等实践有助于管理大型代码库。此外，现代编程语言和框架通常提供了工具和方法来帮助管理代码规模，例如模块化、封装和抽象。
软件测试缺陷密度的计算方法
03-27
NULL 博文链接：https://kingtai168.iteye.com/blog/1168073
什么是缺陷密度？计算的公式及示例
wangxi06的专栏
02-24 8415
什么是缺陷密度？ 缺陷密度是软件/模块在特定运行或开发期间确认的缺陷数量除以软件/模块的大小。它使人们能够决定某个软件是否已准备好发布。 缺陷密度是按每千行代码（即 KLOC）计算的。 如何计算缺陷密度 测量缺陷密度的公式： 缺陷密度=缺陷数量/版本大小 版本的大小可以用一行代码（LoC）来衡量。 缺陷密度示例 假设有3个模块集成到软件产品中。每个模块都发现了以下数量的缺陷： 模块1 = 10个缺陷 模块2 = 20个缺陷 模块3 = 10个缺陷 缺陷总数= 10 + 20 + 1
软件测试缺陷密度的计算方法,如何计算缺陷密度?
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07-25 3589
2015-06-18 06:30:02阅读( 141 )基本的缺陷测量是以每千行代码的缺陷数(Defects/KLOC)来测量的。称为缺陷密度(Dd)，其测量单位是defects／KLOC。缺陷密度=缺陷数量/代码行或功能点的数量可按照以下步骤来计算一个程序的缺陷密度：1. 累计开发过程中每个阶段发现的缺陷总数(D)。2. 统计程序中新开发的和修改的代码行数(N)。3. 计...
基于支持向量回归的软件缺陷密度预测模型_杨腾翔1
08-03
标题中的“基于支持向量回归的软件缺陷密度预测模型”是指使用支持向量回归（Support Vector Regression, SVR）方法来预测软件中的缺陷密度。软件缺陷密度是衡量软件质量的一个重要指标，它表示代码行或功能点中平均...
缺陷密度计算方法
晴天的博客
07-01 1534
缺陷密度(Dd):每千行代码的缺陷数(Defects/KLOC)来测量的 　　 缺陷密度=缺陷数量(D)/代码行数(N)
软件测试中的缺陷探测率
仁化居之安
09-24 3079
缺陷探测率DDP是衡量测试投资回报的一个重要指标，是衡量测试工作效率的软件质量成本指标之一。 DDP是Defect Detection Percentage的缩写，即缺陷探测率。其计算公式如下： DDP=Bugs(tester) / (Bugs(tester)+Bugs(customer)) 其中，Bugs(tester)为软件开发方测试者发现的Bugs数目，Bugs(customer)为客户方发现并反馈技术支持人员进行修复的Bugs数目。 DDP越高，说明测试者发现的Bugs数目越多，发布后客户发现的Bu
总结测试关闭率和缺陷密度
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软件测试——缺陷密度、缺陷数据分析的重要性、缺陷数据分析的数据指标
01-07
缺陷密度 基本的缺陷测量是以每千行代码的缺陷数（个/KLOC）来测量的称为缺陷密度，其测量单位是defects/KLOC。可按照以下步骤来计算一个程序的缺陷密度： 累计开发过程中每个阶段发现的缺陷总数 统计程序中新开发的和修改的代码行数 计算每千行的缺陷数=1000*缺陷总数/代码行数 缺陷数据分析的重要性 统计未修复的缺陷数目（特别是严重性高的缺陷），预计软件是否可以如期发布 分析缺陷的类型分布，发现存在较多缺陷的程序模块，找出原因，进行软件开发过程改进 根据测试人员报告缺陷的数量和准确性，评估测试有效性和测试技能 根据报告的缺陷修复是否及时，改进软件开发与测试的关系，使测试与开发
缺陷密度
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为什么80%的码农都做不了架构师？>>> ...
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diemu2466的博客
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缺陷的密度：缺陷数/KLOL（千行代码） 1、缺陷的基本属性： 缺陷编号 缺陷标题 缺陷严重程度 提示 一般 严重 致命 缺陷的优先级 低优先级 正常排队 高优先级 立即解决 缺陷的状态 缺陷的描述 2、缺陷报告基本内容： 简单描述：一句话描述清楚问题 详细描述 描述问题的基本环境 ...
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DI:Defect Index(缺陷率) 定义：DI值是衡量软件质量的高低的指标之一。 公式：DI= 致命级别的问题个数*10+严重级别的问题个数*3+一般级别的问题个数*1+提示级别的问题个数*0.1 转载于:https://www.cnblogs.com/fanblogs/p/11013961.html...
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dpl12的博客
10-07 888
缺陷的处理流程： 缺陷的跟踪： 新提交的缺陷为“新建”状态，在确认有效之后变为“打开”状态，开发人员修改后变为“已修复”状态，此时测试人员需要回归测试，如果验证问题已解决，状态为“已解决”，如果问题依然存在，状态为“打开”；如果开发人员任务此缺陷可以延期修改，状态为“延期”；注意此时必须由项目相关人员讨论确定后，才可以延期处理，否则状态继续为“打开”。 缺陷密度：基本的缺陷测量...
讲稿2 (缺陷密度度量)
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缺陷密度度量(DD) 是除了代码行(LOC)度量之外在业界应用最广的度量方法之一。缺陷密度度量定义如下：DD = Defects(K)LOC Defects是软件发行以后一段时间（一般6个月）缺陷的数目。这里我们将不讨论实际应用中的度量问题。下面的图表可以说明使用DD度量时的效果。Version 1Version 2#Defects
软件质量度量：缺陷密度与顾客满意度
其中，缺陷密度（Defect Density）是一种常用的度量方法，它用来评估软件中缺陷的数量相对于软件大小的比例。这个比率通常以千行源代码数（KLOC，Kilolines of Code）或功能点为基数进行计算。 1. 缺陷密度（率）...
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