光耦作隔离的电阻问题

最近一个项目，使用光耦作为AD采样芯片作为SPI的隔离使用。

众所周知，使用光耦嘛，速度肯定得降下来，于是把spi速度调整到了8Kbps，开始使用。

光耦电路是最标准也是最简单的电路。

板子是其它人画的，他们告诉我，此处的R258为680欧，R263为4.7K，U68为TLP181

作了简单的测试，基本没有问题，数据可以正常获取。

准备放到产品上去使用时，问题来了：经常读取到错误的数据，在仔细琢磨，难道是前端 AD采样不准？于是作为滤波处理，对采集到的数据进行kalman滤波，想着问题应该解决了。结果发现，还是有很大的偏差。

于是，做处理，每次对AD采集的数据进行处理，每采一次，记录cnt++，每发现一次与上一次的数据值相差>0.2V，记录err_cnt++，长期运行看。

运行一段时间后，发现err_cnt占总的cnt的比例接近4%，问题严重呢。

再次跟踪，看看当数据错误时，与正常数据的差值有多大，发现差别非常大，再仔细研究一下，发现约为正常值的1/2或是1/4左右&#x