如何减小插入损耗-信号与电源完整性:
关于
损耗
的现象,大家看得最多的应该是类似于图3-
22
,布线越长眼图闭合度越高,直至完全没有眼睛。

图3-
22描述的是损耗过大的现象。不过如果只单说一个眼图闭合并不能精确地描述它。 的确,
眼高从1100mV
左右开始逐渐到
眼图闭合
,但是还需要注意它的峰值只从
1200mV衰 减到1000mV
。
眼图闭合的原因是高频分量过多的衰减。
图3-23所示能从频域中更直观地看出衰减的情况。

图3-23右边的两幅频谱图相除就是我们S参数中的插损了。
要避免这样的情况出现,最简单的方法就是缩短我们的传输距离,但是很多时候系统架构是固定的,难免存在线长的问题,我们就需要考虑其他的方法了。
损耗的主要来源有导体损耗和介质损耗,其他的损耗类型如辐射损耗通常比较小,可以忽略。
介质损耗跟传输线的结构没有关系,所以要减小传输线的介质损耗,唯一的办法就是使用损耗角较低的材料。不同材料损耗对比如图3-24所示。

可以看到,不同的介质,其损耗存在三、四倍的差别。
减少导体损耗则可以从两个方面入手
,
一个是加大布线的线宽
,
另一个是减少铜箔的粗糙度
。在使用当前的高速材料时,导体损耗甚至会占据总损耗的70%,而表面粗糙度所引起的损耗大概占铜箔损耗的1/3
,如图3-25所示。

在后面章节中,会针对板材进行专门的介绍,这里不做过多讲解。

不过十几年前人们预言速率的瓶颈在
10Gbps
左右,现在由于采用了均衡和编码等技术, 信号速率早已突破
50Gbps
。