手机射频测试-非信令

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转眼之间，两年过去了，还是没能写些东西出来，懒了。昨天偶尔在论坛中看到有人咨询非信令方面的问题，那就从手机的非信令测试开始吧。

  手机的非信令测试，顾名思义，就是在手机和测试仪器（模拟基站，如CMU200/8960）没有信令交互的情况下对手机进行射频测试。其出现的原因在于现在的手机所需支持的频段的增多和制式的增多，导致在生产测试中单部手机测试时间过长，从而影响手机的产量。而在信令下测试，手机注册和呼叫的时间都是比较长的，但又是不可避免的，因此出现的非信令测试。也就是说手机的非信令测试主要目的是为了满足生产的需求的。

  最初的手机非信令测试是名副其实的非信令测试，当我们测试手机的发射机时，通过PC控制手机（也能能是上网卡，通信模块，以后统称DUT）在相应频点，发射出相应功率的信号，然后使用测试仪器测试其相应频点的功率、调制、频谱或码域等指标；而当我们需要测试DUT的接收机时，则利用测试仪器在相应频点以相应的功率发出已知序列的调制信号，然后利用PC控制手机在相应频点进行接收解调，通过对比比特流或计算CRC，算出相应的BER或BLER。这种方法和校准时非常类似的，现在通常被称为单端非信令测试。

  当时上述非信令测试并没有被广泛接收，原因在于其测试时，DUT所处的状态与信令测试所处的状态不同，其中最显著的不同就是在上述模式下，DUT是出于单发或单收的状态；而在信令模式下，DUT测试收发同时工作的（虽然GSM的收和发不是同时的，但其在一个TDMA中也一次开关切换的）。因此后来又提出一种还回的非信令测试，也就是说在测试仪器和DUT均需进入特殊的还回模式，在这种模式下，测试仪器和DUT有一定测信令交互，并且DUT可以把接收到的数据还回给测试仪器，直接有测试仪器计算出BER/BLER，进行接收机测试；并且测试仪器可以通过信令，调整DUT的发射功率（比如用于WCDMA的内环测试）等。因此这种方法更接近于传统的信令测试，与其最大的不同在于其省掉了注册和呼叫的过程，而在其之后，DUT的状态在两种模式下市完全一致的，因此更接近实际；同时，它又大大缩短了测试时间，因此，它将是移动通信终端生产测试的主流（已经是了）。  

  目前的非信令测试测试已经被许多国际大厂采用，而在国内一线的厂商也在逐步采用，也希望以后本土厂商更多的采用，促进生产效率的提升。通常情况下，以两频GSM手机为例，相对于信令模式，非信令能够大概节省50%的测试时间，也就是说同样数量的测试设备，产量也就翻倍了。

  以上为基于本人的以往工作经验的理解，希望对行业同仁有所帮助，如果有转载，请注明出处。多谢了。