汽车相关标准 AEC-Q（Automotive Electronics Counsil汽车电子协会 Q Qualification认证资格）

更新时间2021年5月24日，请以AEC官网最新公布为主要参考。

汽车相关标准 AEC-Q（Automotive Electronics Counsil汽车电子协会 Q Qualification认证资格）

英文官网地址 如下，可以下载相关文档

http://www.aecouncil.com/AECDocuments.html

AEC相关文档

AEC组件技术委员会已建立以下文件，以定义一般的电气组件资格要求。 这些文档包含详细的资格和重新资格要求，并包括使用通用数据的独特测试方法和准则。 符合这些规格的组件适合在恶劣的汽车环境中使用，而无需进行其他组件级别的资格测试。 供应商可以无限制地宣传符合这些规格的组件，但如果这些组件未经连续成员（当前Aptiv，Bose Corporation，Continental，Cummins，Delphi Technologies，Denso International America，Gentex，Harman，Hella，John Deere Electronic）的批准，则可以 不得更改解决方案（凤凰国际），Kostal汽车，李尔公司，麦格纳电子，Sirius XM，法雷奥，Veoneer，Visteon和ZF的规格。

• AEC组件技术委员会章程
  • AEC组件技术委员会章程-Rev-G
  • AEC成员资格申请（在AEC宪章Rev-G中发布）
• AEC-Q100：基于故障机制的集成电路应力测试资格
  • AEC-Q100 Rev-H：基于故障机制的集成电路应力测试资格（基础文档）
  • AEC-Q100-001-Rev-C：引线键合剪切测试
  • AEC-Q100-002-Rev-E：人体模型（HBM）静电放电测试
  • [已淘汰] AEC-Q100-003-Rev-E：机器型号（MM）静电放电测试
  • AEC-Q100-004-Rev-D：IC闩锁测试
  • AEC-Q100-005-Rev-D1：非易失性存储器程序/擦除持久性，数据保留和操作寿命测试
  • [退役] AEC-Q100-006-Rev-D：电热感应寄生栅极泄漏测试（GL）
  • AEC-Q100-007-Rev-B：故障仿真和测试等级
  • AEC-Q100-008-Rev-A：早期寿命失败率（ELFR）
  • AEC-Q100-009-Rev-B：配电评估
  • AEC-Q100-010-Rev-A：锡球剪切测试
  • AEC-Q100-011-Rev-D：带电设备模型（CDM）静电放电测试
  • AEC-Q100-012-Rev-：用于12V系统的智能功率设备的短路可靠性表征
• AEC-Q101：基于失效机制的分立半导体应力测试资格
  • AEC-Q101 Rev-E：基于失效机制的分立半导体应力测试资格（基础文件）
  • AEC-Q101-001-Rev-A：人体模型（HBM）静电放电测试
  • [已淘汰] AEC-Q101-002-Rev-A：机器型号（MM）静电放电测试
  • AEC-Q101-003-Rev-A：引线键合剪切测试
  • AEC-Q101-004-Rev-：其他测试方法
  • AEC-Q101-005-Rev-A：充电设备模型（CDM）静电放电测试
  • AEC-Q101-006-Rev-：用于12V系统的智能功率设备的短路可靠性表征
• AEC-Q102：汽车应用中基于分立机制的分立光电半导体应力测试资格
  • AEC-Q102 Rev-A：基于故障机制的汽车应用光电半导体应力测试资格
  • AEC-Q102-001 Rev-（初始发行）：结露测试
  • AEC-Q102-002版本-（初始版本）：电路板弹性测试
• AEC-Q103：基于故障机制的汽车应用传感器的应力测试资格
  • AEC-Q103-002版本-（初始发行）：基于故障机制的微机电系统（MEMS）压力传感器设备的应力测试资格
  • AEC-Q103-003版本-（初始发行）：基于故障机制的MEMS麦克风设备的压力测试资格
• AEC-Q104：汽车应用中基于故障机制的多芯片模块（MCM）的应力测试资格
  • AEC-Q104 Rev-（初始版本）：汽车应用中基于故障机制的多芯片模块（MCM）的压力测试资格
• AEC-Q200：被动组件的压力测试资格
  • AEC-Q200 Rev-D基础：无源组件的压力测试资格（基础文档）
  • AEC-Q200-001-Rev-B：阻燃测试
  • AEC-Q200-002-Rev-B：人体模型（HBM）静电放电测试
  • AEC-Q200-003-Rev-B：梁载荷（断裂强度）测试
  • AEC-Q200-004-Rev-A：可复位保险丝的测量程序
  • AEC-Q200-005-Rev-A：电路板挠性/端子粘结强度测试
  • AEC-Q200-006-Rev-A：终端强度（SMD）/剪切应力测试
  • AEC-Q200-007-Rev-A：浪涌电压测试
• AEC-Q001修订版-D：零件平均测试指南（提供使用统计技术和扩展的操作条件来建立零件测试极限的指南；此方法可用于提供“已知的良好模具”。）
• AEC-Q002 Rev-B：统计产率分析指南（提供了使用统计技术检测和去除异常集成电路的指南）
• AEC-Q003 Rev-A：表征集成电路产品电性能的准则
• AEC-Q004 Rev-（初始版本）：汽车零缺陷框架（描述了一组基于行业最佳实践的过程，方法和工具，半导体产品的供应商和用户可以使用这些过程，方法和工具来实现零缺陷。）
• AEC-Q005 Rev-A：无铅测试要求（包含一组测试，并定义了用于任何汽车电子应用中的组件的无铅（无铅）冶金资格的最低要求）
• AEC-Q006 Rev-A：使用铜（Cu）线互连的组件的资格要求

删除文档-ISO / TS-16949：客户特定要求-半导体商品
AEC技术委员会的通知：管理机构（IATF / IAOB）不允许TS-16949的增补，仅允许客户详细说明。 QS-9000 Semi Supplement的作者对文档进行了修改，使其与新的TS文档完全一致，并以ISO / TS-16949：客户特定要求-半导体商品的形式发布。 AEC并没有发行该文档作为补充，而只是作为可供任何人采纳作为其对半导体供应商的客户要求的文档。因此，AEC在网站上发布了该文档，任何人都可以使用它，按原样使用它或将其用作满足自己的客户要求的起点。虽然需要TS16949，但具体细节（包括对半导体的处理方法）留给每个单独的用户，以满足他们的特定要求。 AEC无法传达具体要求，该文档变得无效，并且AEC技术委员会选择将其从网站上删除。

DEHist 2000.1030：DE直方图-Excel加载项
注意：DE Histogram是一个Excel加载项，可用于统计分析任何数据集，并以图形方式显示每个变量的分布。该软件可以免费使用，但目前不受支持。共享软件或其他经验并不表示其适合您的用途，也不表示或表示任何保证。

AEC模板和表格
AEC-Q100 Rev H-CDC模板：设计，建造和资格证书（发布在AEC-Q100 Rev-H中）
AEC-Q100修订版H-QTP模板：资格测试计划（发布在AEC-Q100修订版-H中）
AEC-Q102 Rev A-CDC模板：设计，建造和资格证书（发布在AEC-Q102 Rev-A中）
AEC-Q102修订版A-QTP模板：资格测试计划（在AEC-Q102修订版A中发布）
AEC-Q102修订版A-数据模板：资格数据表示（在AEC-Q102修订版A中发布）
AEC-Q104初始发行版-CDC模板：设计，建造和资格证书（发布于AEC-Q104修订版-）
AEC-Q104初始版本-QTP模板：资格测试计划（在AEC-Q104修订版-中发布）

参考文献：

http://www.aecouncil.com/AECDocuments.html

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