STM32F103RCT6_ADC_校准与内部温度传感器注意事项

本文档介绍了如何在STM32F103RCT6上执行ADC的自动自校准过程。首先,确保ADC在关闭状态下至少两个时钟周期后再开启。然后,停止所有进行中的转换,并禁用ADC。成功禁用后,进入内部校准状态。此过程涉及检查参数、锁定ADC操作并监控ADC状态。
摘要由CSDN通过智能技术生成
		                            **内部温度传感器**
	错误地认为STM32F429IGT6 的内部温度传感器与STM32F103RCT6的内部温度传感器是一样的了,然而事实上他们差的很远。
	STM32F429IGT6 的内部温度传感器计算公式如下:
				T(℃)={(Vsense - V25)/Avg_Slope}+25
	上式中:
				V25=Vsense 在 25 度时的数值(典型值为:0.76)。
				Avg_Slope=温度与 Vsense 曲线的平均斜率(单位为 mv/℃或 uv/℃)(典型值为2.5mV/℃)。
	显然这是正温度系数传感器。
	而STM32F103RCT6的内部温度传感器计算公式如下:
				T(℃)={(V25-Vsense)/Avg_Slope}+25
	上式中:
				V25=Vsense 在 25 度时的数值(典型值为:1.43)。
				Avg_Slope=温度与Vsense曲线的平均斜率(单位:mv/℃或uv/℃)(典型值:4.3mv/℃)。
	显然这是逆温度系数传感器。
                                        **校准**
    STM32中文参考手册_V10:
	ADC有一个内置自校准模式。校准可大幅减小因内部电容器组的变化而造成的准精度误差。在校准期间,在每个电容器上都会计算出一个误差修正码(数字值),这个码用于消除在随后的转换中每个电容器上产生的误差。通过设置ADC_CR2寄存器的CAL位启动校准。一旦校准结束,CAL位被硬件复位,可以开始正常转换。建议在上电时执行一次ADC
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