简易频率特性测试仪

本文介绍了2016年TI邀请赛题目——简易频率特性测试仪的设计,该测试仪基于零中频正交解调原理,由模拟部分、FPGA部分和单片机部分组成。FPGA实现扫频信号源、乘法器和低通滤波器,单片机负责测量显示。模拟部分设计了一个带通滤波器,FPGA设计中,通过调整FIR滤波器的采样率来改变截止频率,以满足不同扫频范围的需求。
摘要由CSDN通过智能技术生成

简易频率特性测试仪

一、项目简介

本题是2016年TI邀请赛题目,其原型是2013年国赛E题。本题要求制作设计并制作一台频率特性测试仪,用于测量并显示“被测网络”的频率特性,系统组成框图如图1所示。其原理是基于零中频正交解调原理,其实现方式采用基于FPGA的纯数字结构。

系统框图1

二、系统框图

系统框图2

上图为零中频正交解调原理的实现框图。其中,“被测网络”部分由模拟实现,“测量显示”由单片机实现,其余功能均由FPGA实现。

FPGA产生两路正交扫频信号源,其中余弦信号为:

Acosωt A cos ⁡ ω t

通过DA输出到被测网络,经过被测网络后输出为:
Bcos(ωt+ϕ) B cos ⁡ ( ω t + ϕ )

此信号通过AD采集到FPGA内部,分别与两路正交信号相乘,得到同向分量i和正交分量q:
i=Acosωt×Bcos(ωt+ϕ)=AB2[cos(2ωt+ϕ)+cosϕ] i = A cos ⁡ ω t × B cos ⁡ ( ω t + ϕ ) = A ⋅ B 2 [ cos ⁡ ( 2 ω t + ϕ ) + cos ⁡ ϕ ]

q=Asinωt×Bcos(ωt+ϕ)=AB2[sin(2ωt+ϕ)sinϕ] q = A sin ⁡ ω t × B cos ⁡ ( ω t + ϕ ) = A ⋅ B 2 [ sin ⁡ ( 2 ω t + ϕ ) − sin ⁡ ϕ
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