Smith圆图是由史密斯(Smith)创立的以映射原理为基础的图解方法。Smith圆图的提出主要是为了简化反射系数的计算,本文主要介绍我自己对Smith圆图形成过程的理解、如何根据Smith圆图读取数据以及电路发生改变后Smith圆图相应会做出哪些变化。
一、Smith圆图的形成过程
首先从反射系数进行说明,反射系数描述了特征阻抗 Z 0 Z_0 Z0和负载阻抗 Z L Z_L ZL之间的失配程度,具体表达式如下。
Γ 0 = Z L − Z 0 Z L + Z 0 Γ_0 = \frac{Z_L-Z_0}{Z_L+Z_0} Γ0=ZL+Z