Smith圆图是由史密斯(Smith)创立的以映射原理为基础的图解方法。Smith圆图的提出主要是为了简化反射系数的计算,本文主要介绍我自己对Smith圆图形成过程的理解、如何根据Smith圆图读取数据以及电路发生改变后Smith圆图相应会做出哪些变化。
一、Smith圆图的形成过程
首先从反射系数进行说明,反射系数描述了特征阻抗
Z
0
Z_0
Z0和负载阻抗
Z
L
Z_L
ZL之间的失配程度,具体表达式如下。
Γ
0
=
Z
L
−
Z
0
Z
L
+
Z
0
Γ_0 = \frac{Z_L-Z_0}{Z_L+Z_0}
Γ0=ZL+Z0ZL−Z0
其中
Z
L
=
R
+
j
X
Z_L = R + jX
ZL=R+jX
在进行射频通信时,我们往往希望传输线传输距离远并且传输功率足够大,同时也希望传输线的损耗足够小。贝尔实验室做了很多实验,最终发现符合这种大功率传输的传输线,其特征阻抗分别是30欧姆和77欧姆。其中30欧姆的传输线可以传输的功率是最大的,77欧姆的传输线传输信号的损耗是最小的。为了二者兼顾,通常传输线的特征阻抗选为50Ω。
所以
Γ
0
=
Z
L
−
Z
0
Z
L
+
Z
0
=
Z
L
−
50
Z
L
+
50
Γ_0 = \frac{Z_L-Z_0}{Z_L+Z_0} = \frac{Z_L-50}{Z_L+50}
Γ0=ZL+Z0ZL−Z0=ZL+50ZL−50
进行归一化处理
Γ
0
=
r
+
j
x
−
1
r
+
j
x
+
1
Γ_0 = \frac{r + jx - 1}{r + jx + 1}
Γ0=r+jx+1r+jx−1
其中
r
=
R
50
r = \frac{R}{50}
r=50R;
x
=
X
50
x = \frac{X}{50}
x=50X
做如图1所示"复平面"。
图1
此时令纵坐标发生弯曲,可得图2.
图2
图2中右边的圆便是史密斯圆图的一个雏形。再加入两条电抗线并弯曲则有有图3。
图3
以上就是Smith圆图的形成过程。
上图为一个完整的Smith阻抗导纳圆图。图中除了上述在阻抗复平面中由直线弯曲而成的圆,还有在导纳复平面中由直线弯曲而成的圆共同构成了阻抗导纳圆图。
二、Smith圆图知识点
阻抗在Smith圆图中的变化轨迹
通过Smith圆图读出SWR:
1.在史密斯图上绘制出归一化负载阻抗点;
2.以圆心到归一化负载阻抗点的距离为半径做等驻波系数圆;
3.在圆与实轴的负半轴相交的地方向下引出直线,在Smith圆图下侧SWR轴上读取VSWR的值。
通过Smith圆图读出Γ
1.在史密斯图上绘制出归一化负载阻抗点;
2.以圆心到归一化负载阻抗点的距离为半径做等驻波系数圆;
3.在圆与实轴的负半轴相交的地方向下引出直线,在Smith圆图下侧|Γ|轴上读取Γ的模值。
4.从Smith圆图的圆心到归一化负载阻抗点做连线,并延长,在单位圆的外围可以读出相位角度,由此可以读出Γ的值。
总结
本文粗略的讲述了一些对Smith圆图的理解和Smith圆图的一些知识点,还有很多内容有待更新。