STM32F373MCU内部DAC输出测试,结论:输出‘断层’是器件参数中的差分非线性和积分非线性导致的

下图是12位DAC输出测试(Vref = 3V),34410A回读(NPLC=10,rang=10V)
X:设置值
Y:回读值-理论值
------------------------------------积分非线性
在这里插入图片描述
X:设置值
Y:后一回读值-前一回读值
理论上每增加1,电压会增加3/4096=0.7324mV. -----------------差分非线性
在这里插入图片描述
可见:输出在设置值从0xnFF到0xn00出现‘断层’,表现为后一个值增加的不明显(也就是正常情况下会增加0.7324mV,但是只增加了0.65mV),从而导致放大后电压不稳定,导致精度达不到预定目标。

大家知道这是DAC输出的什么问题吗?

230828

问题原因;是由于差分非线性和积分非线性导致的测量误差,元器件选型时需注意这两个参数会直接影响到DAC输出和ADC回读准确性。

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