试题 基础练习 芯片测试
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问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
//解题思路:从知好芯片比坏芯片多可的到,当所有芯片中有一半以上认为
//它是好的时,则可以确定它是好的芯片
package Main;
import java.util.Scanner;
public class Main {
public static void main(String[] args) {
Scanner sc=new Scanner(System.in);
int n=sc.nextInt();
int[][] xi=new int[n+1][n+1];
for (int i = 1; i <=n; i++) {
//通过改变j来获取i芯片测试其它芯片的结果
for (int j = 1; j <=n; j++) {
xi[i][j]=sc.nextInt();
}
}
//
for (int i = 1; i <=n; i++) {
int sum=0;
//通过改变j来获取所有芯片对i的芯片测试结果
for (int j = 1; j <=n; j++) {
sum+=xi[j][i];
//当获取其它所有对i芯片良好超过一半时就可以确定它是好芯片
if(sum>n/2.0&&j==n) {
System.out.print(i+" ");
break;
}
}
}
}
}