基础练习 芯片测试

试题 基础练习 芯片测试

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问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

对于本题就个至关重要的判断依据 有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。那么就是说在一列中 1的次数大于0的次数 就是好芯片。

import java.util.Scanner;
import java.util.*;
public class Main {

	public static void main(String[] args) {
		// TODO Auto-generated method stub
		Scanner in = new Scanner(System.in);
		int n = in.nextInt();
		int [][] arr=new int[n][n];
		for(int i=0;i<n;i++){//录入数据
			for(int j=0;j<n;j++){
				arr[i][j] = in.nextInt();
			}
		}
		in.close();
		for(int i=0;i<n;i++)	{ //i 行 J 列
    		int flag=0;  //定义flag 标记1 
    		for(int j=0;j<n;j++)
    		{     //列循环
    			if(arr[j][i]==1) { //列从第一行到最后一行有多少个1
    				flag++;
    			}
    		}
    		if(flag>n/2)//如果1个个数多余0的个数 就是好的
    			System.out.print(i+1+" "); //第j列就是第i+1个芯片
    	}		
	}
}