试题 基础练习 芯片测试
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问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
对于本题就个至关重要的判断依据 有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。那么就是说在一列中 1的次数大于0的次数 就是好芯片。
import java.util.Scanner;
import java.util.*;
public class Main {
public static void main(String[] args) {
// TODO Auto-generated method stub
Scanner in = new Scanner(System.in);
int n = in.nextInt();
int [][] arr=new int[n][n];
for(int i=0;i<n;i++){//录入数据
for(int j=0;j<n;j++){
arr[i][j] = in.nextInt();
}
}
in.close();
for(int i=0;i<n;i++) { //i 行 J 列
int flag=0; //定义flag 标记1
for(int j=0;j<n;j++)
{ //列循环
if(arr[j][i]==1) { //列从第一行到最后一行有多少个1
flag++;
}
}
if(flag>n/2)//如果1个个数多余0的个数 就是好的
System.out.print(i+1+" "); //第j列就是第i+1个芯片
}
}
}