蓝桥杯练习 芯片测试

蓝桥杯练习 芯片测试

问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

思路分析：这道题目只要读懂了测试的思路就超级简单，我刚开始的时候没有读懂，而网上的解答有些很垃圾，明明很简单的题目，这种情况那种情况，写一大堆代码，用很复杂的方法做出来，其实就是蠢，一道题目能够用很清晰的思路，很简单的做法解答，我认为才是正确的。
这道题目可以这样去分析：好的芯片数量比坏的芯片数量要多，并且好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。那么如果是一块好的芯片被测试，那么测试的结果是测得该芯片是好芯片的结果多余或等于测得该芯片是坏芯片的结果。

例如现在有一堆芯片，其中好芯片数量为n，坏芯片数量为m，其中n>m。
那么当一块好芯片被测试的时候，至少有n-1个结果是好芯片，至多有m个结果是坏芯片。由于n-1大于等于m,就是说当测试为好芯片的结果大于或等于测试为坏芯片的结果，那么这块芯片是好芯片。
当坏芯片被测试的时候，至少有n个结果是坏芯片，至多有m-1个结果是好芯片，由于n>m>m-1，那么当测试为好芯片的结果大小于测试为坏芯片的结果，那么这块芯片是坏芯片。
看样例：
1 0 1
0 1 0
1 0 1
第一块芯片被其余测试结果：0 1好的等于坏的，好芯片
第二块芯片：0 0坏的多，坏芯片
第三块芯片：1 0 好的等于坏的，好芯片。

那么这道题目就很简单了，只需要统计每一块芯片被其他芯片的测试结果，好的多于等于坏的–>好芯片，好的少于坏的–>坏芯片
代码如下：

import java.util.*;

public class Main {
    public static void main(String[] args) {
        //数据输入
        Scanner sc = new Scanner(System.in);
        int n = sc.nextInt();
        int[][] arr = new int[n][n];
        for (int i = 0; i < n; i++) {
            for (int j = 0; j < n; j++) {
                arr[i][j] = sc.nextInt();
            }
        }
        //统计每一块芯片被其余芯片的测试情况
        for (int i = 0; i < n; i++) {
            int numBad = 0;//记录测试结果为坏的数量
            int numGood = 0;//记录测试结果为好的数量
            for (int j = 0; j < n; j++) {
                //去掉自己测自己的情况
                if(i==j){
                    continue;
                }
                //一列一列地看
                if(arr[j][i] == 0){
                    numBad++;
                }else {
                    numGood++;
                }
            }
            //根据分析，判断第i快芯片是好芯片还是坏芯片
            if(numGood>=numBad){
                //输出时下标需要加一
                System.out.print(i+1);
                System.out.print(" ");
            }
        }
    }
}