二次雷达中的旁瓣干扰
二次雷达主要工作模式为询问应答,其中包含应答机和询问机。
应答机多是全向天线,接收多个询问机发送的询问信号。一旦应答机与询问机距离小于一定值,旁瓣将和主瓣一样出现应答,即旁瓣干扰。
为了对抗干扰,也就是询问旁瓣抑制技术,应答机通过比较询问信号与抑制脉冲信号的相对幅度,可以判断自己处于询问天线的主瓣还是旁瓣方向,从而只对主瓣方向的询问进行应答。
也就是说,这一般是应答机的工作。
询问旁瓣抑制技术
在前一篇里有写到。
询问旁瓣抑制对识别概率的影响
在应用二次雷达时,应答询问正在处理信号时,若出现其他询问信号,应答机i并不能快速给予处理,询问信号只能等待应答询问处理完信号。这被称作应答占据。
询问旁瓣覆盖率
在和差双通道天线方向图中,和波束旁瓣高于差波束电平的地方被称之为穿刺点。
穿刺点会触发应答机,寻致应答机误应答,产生应答占据,为二次雷达工作带来不必要的旁瓣干扰。在询问天线实际设计中,应综合考虑以下几点:
极化方式
方位覆盖率
总效率等。
在询问旁瓣抑制技术应用下,也还是很难保证差波束与和波束覆盖率达到100%。当前,在国外发达国家,现役二次雷达的典型设计的旁瓣覆盖率已经达到95%甚至98%,如:毫米波单脉冲询问天线,最先进技术的旁瓣覆盖率已经高达99.7%,我国先进达到95%。
为尽可能增大差波束对波束旁瓣的覆盖率,可以在二次雷达工作中优化询问阵列天线设计,降低穿刺点幅度,有效避免应答占据。当然,也可通过增大波束幅度的加权系数,提高差波束电平覆盖,以此降低应答占据现象,充分发挥询问旁瓣抑制技术的效果。
当前,在询问旁瓣抑制技术应用中,除了上述方式降低旁瓣干扰外,已经出现另一种更行之有效的方案,且被应用于工程实践大工作中。
将普通旁瓣抑制技术与差旁瓣抑制技术相互综合,在和、差双通道之上增加全向通道,利用三个通道分别发送询问脉冲,以此消除旁瓣穿刺点,提高二次雷达的工作效率。