【原理学习】二次雷达系统-询问旁瓣抑制技术

二次雷达中的旁瓣干扰

二次雷达主要工作模式为询问应答，其中包含应答机和询问机。
应答机多是全向天线，接收多个询问机发送的询问信号。一旦应答机与询问机距离小于一定值，旁瓣将和主瓣一样出现应答，即旁瓣干扰。
为了对抗干扰，也就是询问旁瓣抑制技术，应答机通过比较询问信号与抑制脉冲信号的相对幅度，可以判断自己处于询问天线的主瓣还是旁瓣方向，从而只对主瓣方向的询问进行应答。
也就是说，这一般是应答机的工作。

询问旁瓣抑制技术

在前一篇里有写到。

询问旁瓣抑制对识别概率的影响

在应用二次雷达时，应答询问正在处理信号时，若出现其他询问信号，应答机i并不能快速给予处理，询问信号只能等待应答询问处理完信号。这被称作应答占据。

询问旁瓣覆盖率

在和差双通道天线方向图中，和波束旁瓣高于差波束电平的地方被称之为穿刺点。
穿刺点会触发应答机，寻致应答机误应答，产生应答占据，为二次雷达工作带来不必要的旁瓣干扰。在询问天线实际设计中，应综合考虑以下几点：
极化方式
方位覆盖率
总效率等。
在询问旁瓣抑制技术应用下，也还是很难保证差波束与和波束覆盖率达到100%。当前，在国外发达国家，现役二次雷达的典型设计的旁瓣覆盖率已经达到95%甚至98%，如:毫米波单脉冲询问天线，最先进技术的旁瓣覆盖率已经高达99.7%，我国先进达到95%。
为尽可能增大差波束对波束旁瓣的覆盖率，可以在二次雷达工作中优化询问阵列天线设计，降低穿刺点幅度,有效避免应答占据。当然，也可通过增大波束幅度的加权系数，提高差波束电平覆盖，以此降低应答占据现象，充分发挥询问旁瓣抑制技术的效果。
当前，在询问旁瓣抑制技术应用中，除了上述方式降低旁瓣干扰外，已经出现另一种更行之有效的方案，且被应用于工程实践大工作中。
将普通旁瓣抑制技术与差旁瓣抑制技术相互综合,在和、差双通道之上增加全向通道，利用三个通道分别发送询问脉冲，以此消除旁瓣穿刺点，提高二次雷达的工作效率。