符合IPC-9704标准的应力测试仪TSK-64/TSK-32

电阻式应变片传感器是利用一定的方式将被测量的变化转化为敏感元件电阻参数的变化,再通过电路转变成电压或电流信号的输出,从而实现非电量的测量。

电阻应变片测试原理:应变片是根据应变效应而制成的传感元件,由敏感栅和导线构成,用于测量应变。使用时将其牢固地粘贴在构件的测点上,构件受力后由于测点发生应变,敏感栅也随之变形而使其电阻发生变化,将应变的信号, 透过惠斯登电桥模块加以平衡, 可转换成相对应的电压信号,透过测试仪内部的模拟/数字电路后, 可将电压讯号转为数位讯号, 再由专用的软件来撷取并分析这些讯号。

PCB应力测试环境建立要求:

1,需要满足IPC要求的应力测试仪TSK-64/TSK-32/TSK-8系列都可以,满足动态同步采集。

2,TSK应变片,单轴、双轴、三轴都可以满足要求。

3,笔记本电脑,需装有应变采集软件“e-strain”,实时现场采集,一键生成报告。

 TSK-64是一款便携式应力测试仪,主要用于PCBA生成SMT和DIP应变测试、分板应力测试、ICT应力测试、FCT应力测试、组装应力测试和跌落应力测试等等,也常用于空调管路应力测试,玻璃应力测,以及一些结构件的应力测试等等。仪器体积小,便携带;软件操作简单,上手方便,能快速进行测量并根据IPC/JEDEC-9704标准一键自动生成报告。对生产测试流程进行完整的应力测试分析,该系统在满足常规的应力数值分析、应力速率分析,等基本功能要求的同时,根据客户后续发展需求,进行功能和通道数的扩展(8通道、16通道、24通道、32通道、40通道、48通道、56通道、64通道可根据情况选配)。

 


    TSK应力应变测试仪的特点:
1.小型化性价比高的精密测量仪器。
2.便携式,模块式扩展。
3.一键自动生成报表及报表合并功能。
4.构成简易,通过电脑来控制测量。
6.采用模块化方式,每个应变模块有8个采集通道,TSK-64最少含1个8通道应变采集卡,为8通道,可以进行扩展。
7.采集信号为120/350欧姆应变片(采用不同模块)。
8.允许采样率为10KHz(32通道同时采样)。
9.操作菜单以对话框形式,中文界面,简单快速。
10.结合国际上应变片测试标准Intel标准和IPC-9704标准,一键全自动生成报告,并判断“Pass” or“ Failed”。
    TSK应力应变测试仪的相关参数:
◆ 单模块通道数:8/4个模拟输入通道
◆ 采样率:10KHZ/通道
◆ 采样模式:多通道同步采样
◆ ADC分辨率:24位
◆ 支持应变式传感器电阻值:TSK-32A系列支持120Ω,TSK-32B系列支持350Ω
◆ 支持惠斯通电桥类型:1/4 桥
◆ 转换精度:3.5062nV/V/LSB
◆ 精度增益误差:0.02%(已校准,常规测量条件25℃,±5℃)
◆ 全量程范围:±29.4mV/V(+55000uE/-55000uE)
◆ 端子间过压保护:±30V
◆ 稳定性:增益漂移6ppm/℃
◆ 机箱接口类型:USB2.0高速输入
◆ 供电电源:11到30VDC,220VAC
◆ 工作温度:-40℃~70℃,工作湿度:10%~90% RH,无凝结
◆ 存储温度:-40℃~85℃,存储湿度:5%~90% RH,无凝结
◆ 防护等级:IP 40

应变片类型:

阿克蒙德TSK系列应变片
本公司AKEMOND阿克蒙德应变片聚酰亚胺基底,康铜箔制成,全密封结构、有温度自补偿,延伸率高,耐湿热性好,电阻绝缘性能好,使用温度范围宽,可接入电桥进行测量因受力产生的应变值,适用于各种复杂环境精密应力分析。
AKEMOND阿克蒙德TSK常规型号应变片
三轴应变片:
TSK-1A-120-3A-11L1M2S
TSK-1A-120-3A-11L30W
TSK-1A-120-3A-11L30W07MS
TSK-1A-120-3A-11L30W3MS
TSK-1E-120-3A-11L50W05MS
TSK-1E-120-3A-11L30W05MS
TSK-1E-120-3A-11L50W3MS
TSK-1D-120-3A-11L50W05MS
TSK-1D-120-3A-11L1M2S
TSK-05R-120-3A-11L50W07MS
TSK-05R-120-3A-11L80W06MS
TSK-05R-120-3A-11L50W3MS
单轴应变片:
TSK-1B-120-1A-11L1M2S
TSK-1B-120-1A-11L2M2S
TSK-1R-120-1A-11L1M2S
TSK-1R-120-1A-11L2M2S
TSK-05R-120-1A-11L1M2S
TSK-05R-120-1A-11L2M2S
双轴应变片:
TSK-1A-120-2A-11L1M2S

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### 回答1: 晶圆测试map转换是把由不同测试程序生成的原始测试数据map转换成统一的格式,以便在芯片制造工艺流程中进行质量控制和优化。常见的晶圆测试地图格式包括tsk、tel和pt301等。 tsk格式是针对互连(Interconnect)测试的格式,包含测试点、测试条件和测试结果等信息,常用于互连测试,以评估芯片互连层的功率分布、信号完整性和噪声等方面的性能。 tel格式是测试事件日志(Test Event Log)格式,以时间为参照点记录测试过程中芯片各测试区域的状态和结果,包括测试时间、测试结果和测试事件等信息,常用于数字电路和混合信号电路的测试。 pt301格式是用于测试数字电路板的格式,包括测试向量、测试条件和测试结果等信息,可用于测试数字电路板的各个部分和整体性能。 对于芯片制造商和测试人员来说,晶圆测试map转换是必不可少的工具和技术。它能够提高测试效率和测试数据可靠性,为芯片质量控制和优化提供重要的信息和支持。 ### 回答2: 晶圆测试map转换是指将一种格式的晶圆测试数据转换成另一种格式。在晶圆测试中,测试数据须经过解码处理,可以把测试数据转化成tsk/tel/pt301等常见格式。通过转换,实现不同测试设备的数据兼容性,方便不同设备之间的数据传输和数据分析。 tsk/tel/pt301是常见的晶圆测试数据格式,它们有着各自的特点和优势。tsk格式的数据可直接嵌入到工艺报告中,方便了工程师进行分析和工艺改进;tel格式的数据则较为通用,可以被许多不同的测试设备识别和使用;而pt301格式的数据则是一种较新的标准格式,具有很好的可扩展性和兼容性。 在实际的晶圆测试过程中,如果测试设备与分析设备的格式不兼容,就需要进行map转换操作。这个操作一般由专门的map转换软件完成,可以将一种格式的数据转换成另一种格式,方便分析设备进行后续处理。 总之,晶圆测试map转换在晶圆测试领域中起着重要作用,不仅方便了数据传输和分析,也使得不同设备之间的数据兼容性更好。 ### 回答3: 晶圆测试map转换是将晶圆测试所得数据进行转换,以便更好地分析和利用测试结果的过程。在晶圆测试中,常见的测试数据包括芯片的电气特性参数如电压、电流、功率等,以及测试时的时间参数如测试时间、测试步骤等。而测试结果的输出格式因不同测试设备的不同而有所不同,例如TSK、TEL、PT301等不同品牌和型号的测试设备所产生的测试结果格式也具有不同的特点。 因此,在进行测试数据分析前,需要将测试数据进行转换,以便于在不同的分析软件中进行处理和分析。对于不同格式的测试数据,需要使用相应的转换工具进行转换。例如,对于TSK设备所提供的测试数据,可以使用TSK转换工具将其转换为常用的格式如ATE、EXCEL等,以方便后续的统计和分析。 此外,在进行晶圆测试map转换时,还需要注意数据的准确性和完整性。因为测试数据的准确性和完整性对后续的数据分析与评估有着重要的影响,因此在进行数据转换时,需要对数据进行检验和校准,以尽可能保证数据的准确性和完整性。 总之,晶圆测试map转换是晶圆测试中非常重要的步骤,它可以帮助测试人员更好地分析和利用测试结果,并为制造商提供质量控制和过程改进方面的有力依据。

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