如何测得整条IO路径上的并发度?

根据冬瓜哥两周前的那篇文章《IO时延你被骗了多久》(请进入公众号主页,点击右上角头像,进入后点击“查看历史消息”获取所有文章列表)中的结论,整条IO路径上,有些地方并发,有些地方串行,串行的地方虽然每次只能发送一条IO,但是只要处理速度够快,就不会拖慢并发的地方,就像一条高速路,并出10条慢速路的话,整体流量是匹配的。

那么,如何知道整条IO路径上的并发度呢?从底层倒是可以一层一层的算出来,比如,SSD上的Flash颗粒有多少个die,每个die有多少个plane,每个plane有多少个block,每个block同一时刻只能访问一个page,这就是最终的制约了,block间可以并行,plane、die,都可以并行,多个flash颗粒挂到同一个通道上,通道是串行的,但是如果速率足够高,多个flash颗粒间也可以并行。前端sata接口是串行的,但是速率也足够高。出了SSD,到了SATA或者SAS控制器,再去看一下控制器内部的并行处,然后到驱动,协议栈,上层,一路算下来,就可以知道并行度了,然后一段一段的计算出来。

但是,冬瓜哥有个更好的办法,这就像爱迪生把灯泡放到水里测出灯泡体积,而他的助手则使用微积分去算灯泡体积一样,后者虽然逼格高,但是已经无人喝彩。冬瓜哥算IO路径上并发度的方法就是,先确保系统中只有一个线程访问对应的底层存储系统,而且使用同步IO,也就是比如fio这种测试工具,将其worker数量设置为1,qd设置为1,io方式为sync。这样可以测出系统路径上的固有时延(这个概念请参考之前的文章)。然后,采用多个线程,比如8线程,同时QD加大,比如到32,测得此时系统的整体IOPS。然后,IOPS取倒数,测出假时延,然后用固有时延除以假时延,就可以测出当前IO路径上的等效并发数。之所以等效,是因为整体路径上有地方串行,有地方并行,有地方并行高,有地方并行低。

利用这种方式,就可以分分钟测出IO路径的整体等效并发度了。

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