芯片测试

基础练习 芯片测试

Description

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

Input

输入描述:
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。 
输入样例: 
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

Output

输出描述: 
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
输出样例: 
1 3

Sample Input 1 

参考上文 

Sample Output 1

参考上文

Hint

HINT:时间限制：1.0s 内存限制：512.0MB

按列看的话，第j列就是第i个芯片测试第j个芯片的结果。已知好芯片多于坏芯片，所以，如果该列中1的数量多于0，该芯片为好芯片。

#include<stdio.h>
int main(){
  int n,a[20][20],count=0;
  scanf("%d",&n);
  for(int i=0;i<n;i++){
  	for(int j=0;j<n;j++){
  		scanf("%d",&a[i][j]);
	  }
  }
  for(int i=0;i<n;i++){
  	for(int j=0;j<n;j++){
  		count=count+a[j][i];
	  }
	  if(count>n/2)
	  printf("%d ",i+1);
	  count=0;
  }
}