一、问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
二、乍一看似乎没有头绪,但只要仔细读题就可发现至关重要的一句——已知好芯片比坏芯片多。从这句话我们可以推断出:如果一个芯片获得的测试评价中,好多于坏,那么这个芯片是好的,反之亦然。(实践中可以得知:其实当“1”的次数=“0"的次数时,这个芯片也是好的)。
三、代码
import java.util.Scanner;
public class Main {
public static void main(String[] args){
Scanner sc = new Scanner(System.in);
int n = sc.nextInt();
int[][] arr = new int[n][n];
for(int i=0;i<n;i++){//录入数据
for(int j=0;j<n;j++){
arr[i][j] = sc.nextInt();
}
}
sc.close();
for(int j=0;j<n;j++){
int count=0;
for(int i=0;i<n;i++){
if(i == j)//芯片不能对本身进行测试
continue;
else{
count+=arr[i][j];
}
}
if(count >= (float)(n-1)/2)//相当于——"1"的次数>="0"的次数
System.out.print(j+1 + " ");
}
}
}