光电传感器（OPB625）干扰因素测试

【问题现象】

        该类型（但不包括）的传感器产生的光电信号应用于电机速度检测时，出现光电信号不稳定产生的现象：某些时刻多出来了光电信号，如果将光电信号作为系统的输入时，将影响系统中相关模块的稳定输出，造成因果。

【问题排查】

        传统的重复测试方式，很难复现出偶然间出现的受干扰问题，以至于难以排查，从而系统存在长期的不稳定风险。因此仅仅依靠重复性测试，不仅仅耗费了时间，本质上并没有解决根本问题，还因此常常给工程师带来玄学的心理。

        传感器信号，光电也好，霍尔信号也罢，因为要接入电路系统中数字处理，所以，测试时，不建议同示波器观察测试，因为不容易观察。

        因此，通过逻辑分析仪进行测试，采集相关的信号输出，逻辑分析仪抓取的信号和后端数字电路获取的相关信号的判断逻辑一致，所以相对于示波器是更适合用来测试的。

        结果显示，在采用正确恰当的干扰源进行外部干扰后，能稳定复现问题，造成光电信号受干扰多出光电信号，从而成为影响系统稳定性的基础根本因素： 

图1  电机稳定转速时外部干扰影响光电传感器的光电信号

        如果移出干扰源，则稳定抓取光电信号，周期时间是稳定不变的：

图2  电机加速到稳定转速的过程（无外部干扰 中间周期正常）

       

【测试方法——外部干扰测试法】

        正所谓 “解铃还须系铃人”，当能稳定还原该问题现象的时候，才是真正找到了造成该问题的原因。从而才能为真正解决该问题提供客观情况，以实现该模块在系统上的稳定工作。如果只是期待偶尔出现的不稳定情况来重复试验排查无疑于大海捞针。

        正所谓,“反者，道之动。”

        “前车之鉴，后车之师。” 对于系统性稳定出现的问题，对于底层模块的测试方法建立”外部干扰测试法“，基于模块的工作原理进行干扰测试，如光电传感器的所在模块和系统，外部通过其他光源进行干扰测试，红外原理的传感器外部红外干扰测试可以通过Iphone12以及以上机型的屏幕开启（屏幕亮起时面部识别的红外会工作）进行干扰，以排查测试相关的屏蔽性是否合理，是否真正不会受外部光线的干扰的影响；或者通过该测试方法还原低概率事件导致的系统不稳定问题；又如hall传感器的所在系统测试，外部通过磁场干扰测试，并提出完备的防屏蔽干扰设计和措施。
        其他的，读者朋友也可以举例，以及恳请各位大佬提出意见和批评。

        共勉~