DUT模式的初步理解

        DUT模式，即Device Under Test模式，工厂测试模式，主要同于蓝牙设备的RF射频调试测试。在蓝牙设备进入DUT模式后，可以通过蓝牙综测仪（常用MT8852B）搜索并连接到蓝牙设备，进而进行蓝牙射频功率、调制系数、频偏、灵敏度等射频指标的测试。这种模式是蓝牙标准中定义的一种特殊测试状态，用于确保蓝牙设备的性能符合标准要求。在工厂测试环境中，DUT模式允许技术人员通过特定的操作（如连续五次点击某个按键）进入该模式，以便对PCBA软件进行测试和验证。

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