ECC校验——汉明码（Hamming Code）

本文参考板块与链接：
https://en.wikipedia.org/wiki/Hamming_code #wiki英文版
https://zh.wikipedia.org/wiki/%E6%B1%89%E6%98%8E%E7%A0%81 #wiki中文版

前言

  本文主旨意在讲清如何根据原理构造常用的汉明码，鉴于本人在网络查阅资料过程翻阅大量低效/无效文章，特记录如下内容。前篇主要表明如何简单直接的构造汉明码，后续在了解汉明码具体校验原理的情况下，将会补录有关原理的内容。

1. 概念性解释

  Error Correcting Code (ECC)：纠错码。

  汉明码（Hamming Code），纠错码的一种，通用常用于各类Memory中纠正/检测single bit，检测double bits错误。根据结果类型可分为：

• DED (Double Error Dection)：可检测双bit错误
• SECDED (Single Error Correct Double Error Dection)：可检测单bit错误（并纠正），检测双bits错误（不可纠正）

  需要特别注意的是，以上两种类型的汉明码只能针对1 bit，2 bit进行检测或者纠正1 bit错误，如果数据位错误bit数不止两个，最终可能无法检测出错误。只不过一个检测数据中同时出现多bit数据错误发生的概率特别小¹