LDO输出端电容对其稳定性的影响

作者：AirCity 2020.2.5
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一个简单电压反馈型LDO原理框图如下：

LDO电路是一个负反馈电路，这个机制保证了它的稳定性。当负载电流需求突然变大，拉低了LDO的输出电压V0，VF随之降低。此时Error Amplifier的压差变小，输出的VA变小，VIN与VA的压差变大，PNP输出电流增加，进而提高输出电压。

整个反馈回路波特图受Rc，Cc，Zc，RL，CQ，RESR的影响，Rc，Cc就是用于补偿反馈回路，使其在相位翻转180°时，反馈为负，否则会引起震荡（纹波）。理想状态是环路增益为0dB时，附加相位大于-135°，即距离-180°还有45°。要想增加这个相位裕量，就要在反馈回路中加零点，也就是在Vout上增加有ESR的电容。对于LDO的稳定性而言，ESR并不是越低越好，而是有一个合理的范围。

影响LDO稳定工作的外在因素是负载电容容值CL和ESR，以及LDO的输出电流，他们的关系是：

1. 容值小的CL，ESR往往较大，容值大的CL，ESR往往较小。无论哪种电容，都要保证ESR在合理的范围内，规格书往往会提供这个范围。
2. 当LDO输出电流是额定电流的20%~50%时，容易发生不稳定状况。
3. 低温时，CL的ESR会升高，并且容值也会发生变化。选型时要注意！
4. 在ESR很低，LDO输出电流很小（≤1mA）时，容易发生不稳定状况。
5. 同一温度下，LDO输出电流越小，保证LDO稳定性的ESR值越高。
6. 同一输出电流下，温度越高，保证LDO稳定性的ESR越大。
7. 在低输出电流时，LDO输出波形变成三角波，说明ESR过低；在中等输出电流时，如果LDO波形是正弦波，说明ESR过高。

所以说，负载容值，ESR都影响LDO的稳定性，在使用之前，要先看清楚规格书上的要求。

电流反馈型LDO原理：

图中IGND是一种无谓的消耗，功率是VIN*IGND。这个电流越小，LDO的效率越高。手机的PMU有很多LDO，但他们类型是不一样的！要特别注意LDO的使用场合，待机不下电的LDO，切记选用静态电流小的。

有关LDO的详细介绍，见文章《LDO选型参考(原理、参数)》