电压检测芯片按输出方式划分有开漏输出、推挽输出两种类型
两种类型各有优势,相比起来开漏输出功耗更低、电平转换更容易、但输出电平不稳定需要上拉电阻来控制电平,需要按照实际应用中的要求来做出选择
1.HT70系列(开漏输出)
输出电压范围GND-0.3~ VDD+0.3
内部电路当VDD大于Vref(基准电压,7050为5V)比较器输出高电平,经过取反后nmos管断开,VOUT由于接开漏输出的缘故呈现高阻态
当VDD小于Vref比较器输出低电平经过取反后右侧nmos导通,Vout输出低电平,左侧nmos导通,同向端输入的VDD分压降低将下次恢复高阻态的VDD电压值滞后(增大),防止由低电平输出恢复高电平输出因VDD接近Vref时产生震荡。
2. ME2807系列(推挽输出)
内部原理与上述一致,区别在于VIN大于VREF后输出电压为VIN不为高阻态。