博主在最近的一个项目中测试系统的高低温实验,结果意外的发现经过高低温实验后(80℃到-20摄氏度)单片机有些已经死机了,所以不得不着手研究一下这个问题,在网上查阅资料后,基本上可以归结于以下几个问题:
1. 意外中断。是否打开了某个中断,但是没有响应和清除中端标志,导致程序一直进入中断,造成死机假象
2. 中断变量处理不妥。若定义某些会在中断中修改的全局变量,这时要注意两个问题:首先为了防止编译器优化中断变量,要在这些变量定义时前加volatile,其次在主循环中读取中断变量前应该首先关闭全局中断,防止读到一半被中断给修改了,读完之后再打开全局中断;否则出现造成数据乱套。
3. 地址溢出,常见错误为指针操作错误。我要着重说的是数组下标使用循环函数中循环变量,如果循环变量没控制好则会出现数组下标越界,意外修改系统的寄存器造成死机,这种情况下如果死机说明运气好,否则后面不知道发生什么头疼的事。
4. 无条件的死循环;比如使用while(x);等待电平变化,正常情况下x都会变成0,就怕万一,因此最好加上时间限制;