The Fundamentals of Digital Semiconductor Testing笔记

缩略语

ATE：automated test equipment

DUT：device under test

UUT：unit under test

DPS：device power supplies

RVS：reference voltage supplies

PMU：precision measurement unit

VIH: voltage in high

VIL: voltage in low

VOH: voltage output high

VOL: voltage output low

功能测试（functional test）

输入信号格式

NRZ non return to zero 在每个周期的起始位置T0发生变化

DNRZ  delayed non return to zero  相比于NRZ，跳变是发生在预先定义的延时点上

RZ return to zero   logic0时没有变化，logic1时产生正向脉冲

RO return to one  与RZ相反，logic0时产生负向脉冲

SBC surround by compliment  在T0时反转为当前逻辑的反，延时预定的时间后，输出实际的逻辑，之后再次反转

ZD Z（impedance）drive 高阻驱动，允许输入驱动在同一周期内打开和关闭，关闭时为高阻态，打开时为logic0 或1

 

AC测试

Setup Time 建立时间

data在参考信号达到某个特定电压之前一段时间就需要被准备好，存在一个最小的时间，被称为建立时间。这个值也可以是负数，即data发生在参考信号之后。

在上图中，在WE信号达到1.5V之前11nsec，DATA就需要被准备好，才能保证能够被正确识别。

Hold Time 保持时间

data在参考信号达到某个特定电压之后一段时间内还需要持续有效，存在一个最小的时间，被称为保持时间。这个值也可以是负数，即data发生在参考信号之后。

在上图中，在WE信号达到1.5V之后1nsec内，DATA还需要持续保持有效，才能保证能够被正确识别。

Propagation Delay 传输延迟

指一个信号的传输和另一个相关信号的传输之间的时间间隔。一般为某个输入信号的变化到相应的输出信号反应之间的时间间隔。也有测量两个输出信号的情况。传输延迟只能是正值，即信号必须发生在参考信号之后。

在上图中，传输延迟即从ADDR有效到DATA有效之间的时间，表示从地址输入到得到相应数据之间的延迟时间。