半导体常用词汇整理
目录
一、公司部门及相关
(一)半导体公司常用部门
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HR(human resource):人力资源部
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GA(general affairs):总务部
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Accounting:会计部
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MFG(manufacturing):制造部
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EE(equipment engineer):工程部
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PE(process engineer):制程部门
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PC(productin control):生产控制
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PR(public relation):公关部
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PIE/PDE(process integration):工艺整合
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QE(quality engineer):质量部门
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YE(yield engineer):良率部门
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Finance:财务部
(二)WPL 国际贸易部门下属
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stockroom:库房
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OB&shipping:运输
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MRP:物料管理
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custom&trade compliance:海关及贸易
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buyer:采购
(三)FAC 厂务系统下属部门
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FAC system:厂务各系统部门
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FAC operation:厂务系统操作部门
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site request:办公区域维保
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ESH:安全管理部门
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ERC:紧急应变部门
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MEI:厂务系统安装联络部门
(四)其他相关
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Conference:会议
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Training room:训练教室
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IOS(international standard organization):国际标准组织
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IT(information technology):信息技术部门
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ISEP(industrial environment protection):工安环保
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EAP(equipment automation project):机台自动化方案
二、按首写字母区分
(一)A 开头
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air shower:空气洁净
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average:平均
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abort:放弃
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auto/manual:自动手动
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area:区域
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alarm:报警
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acid:酸
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AMHS:自动化物料传输系统
(二)B 开头
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batch:群,组
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bay rack:货架
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bank:储存所
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back up:备用
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bay:工作区
(三)C 开头
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cancel:取消
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cassette:装晶圆片的盒
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check:检查
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class:洁净室等级
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child lot:子批
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cycle time:生产周期
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CD(Critical Dimension):关键性尺寸
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clean room:洁净室
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chemical:化学药剂
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CIM(Computer Integrated Manufacturing):电脑整合制造
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CMP(Chemical Mechanical Polishing):化学机械研磨
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code:代码
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chip(die):晶粒
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critical layer:重要层
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chamber:反应室
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cart:手推车
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control wafer:控片
(四)D 开头
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dummy wafer:挡片
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diffusion:扩散
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damage:损害
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double:重复
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doping:掺杂
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due date:交期
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daily check:每天检查
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DI water:去离子水
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defect:缺陷
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downgrade:降级
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discipline:纪律
(五)E 开头
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etch:蚀刻
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EE(Equipment Engineer):设备工程师
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energy:能量
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EQ rack:机台货架
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EQ status:机台状态
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error:错误
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emergency:紧急状态
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environment:环境
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ET(Equipment Technician):设备技术员
(六)F 开头
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foundry:代工厂
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FAB(Fabrication Facility):晶圆厂
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function:功能
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fail:失败
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filter:过滤器
(七)G 开头
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gas:气体
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gowning room:更衣室
(八)H 开头
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hold:暂停
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hot bake:烘烤
(九)I 开头
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IC(Integrated Circuit):集成电路
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implant:植入
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ID(Identification):辨认号
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idle:闲置
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inter bay:自动传输轨道系统
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IPA(Isopropyl Alcohol):有机清洁溶剂
(十)J 开头
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jig:治具
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job:工作程序
(十一)K 开头
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keep:维持
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kind:种类
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kit:套件
(十二)L 开头
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leave:请假
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logic:逻辑
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LAB(Laboratory):实验室
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laser:激光
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LP(Low Pressure):低压
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layer:层次
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line:线距
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load:载入
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log:记录
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lot:货物,批
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loop:巡路
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login:登录
(十三)M 开头
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machine:机器
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move:产能
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merge:合并
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metal:金属
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mark:标志
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manual:手动
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mapping:数片,映射
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message:信息
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measure:量测
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module:部门
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monitor:测试机器
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micron:微米
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MFG(Manufacturing):制造部
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mask(reticle):光罩
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mode:模式
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mean:平均值
(十四)N 开头
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needle valve:针阀
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notch:凹槽
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non-critical:非重要
(十五)O 开头
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oxide:氧化物
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O.I(Operation Instruction):操作指导手册
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OOS(Out of Specification):超出规格界限
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owner:拥有者
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OOC(Out of Control):超出控制界限
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OPI(Operator Interface):操作界面
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OCAP(Out of Control Action Plan):超出管制界限的对策
(十六)P 开头
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pod:装晶片的盒子
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particle:微尘粒子
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poly:复晶
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polymer:聚合物
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power:电源
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P.R(Photoresist):光阻
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pause:暂停
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pattern:图形
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product:产品
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PN(Production Notice):制程通报
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photo:黄光或微光
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password:密码
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passivation:保护层
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profile:侧面
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pressure:压力
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parent lot:母批
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process:进行 / 过程 / 程序
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peeling:掀起
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priority:优先权
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PM(Preventive Maintenance):预防保养
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POD(Pod):晶盒
(十七)Q 开头
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quality:品质
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quantity(QTY):数量
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qualify:取得资格
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queue time:等待时间
(十八)R 开头
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recipe:程式
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robot:机械手臂
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release:放行
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ready:准备就绪
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reclaim:再生
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request:要求
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range:范围
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review:重新检查
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rework:再跑一次程序
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recycle:回收
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run card:注明程式内容的卡片
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remove:去除
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reject:退回
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record:记录
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retest:再测试
(十九)S 开头
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semiconductor:半导体
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Si(Silicon):硅原子
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spec(Specification):规格
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smart tag:电子式标签
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smart tray:托盘
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sidewall:侧壁
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split:分批
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sticker:防错标签
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standby:准备待命
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set up:设定测试
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scrap:报废
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schedule:时间表
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smif arm:机械手臂
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ship:传送
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stocker:仓储
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shut down:停工
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scrubber:洗刷
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SOP(Standard Operating Procedure):标准操作程序
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slot:槽位
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scratch:刮伤
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summary:总计
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strip:剥去
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solvent:溶剂
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sorter:晶片分片 / 整理机
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SPC(Statistical Process Control):制程参数统计管制
(二十)T 开头
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T.A(Technical Assistant):技术助理
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T.M(Team Manager):领班
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thickness:厚度
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transistor:电晶体
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transfer:传送
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throughput:产量
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test wafer:测试晶片
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track in:进货
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track out:出货
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thin film:薄膜
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TECN(Temporary Engineering Change Notice):零时工程变更通知
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turn ratio:周转率
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tag:电子显示器
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tempurature:温度
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tunnel(bay):通道
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trolley:推车
(二十一)U 开头
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unload:载出
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update:更新资料
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uniformity:均匀度
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urgent:紧急的
(二十二)V 开头
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VLSI(Very Large Scale Integration):超大型积体电路
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vacuum:真空
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vender:厂商
(二十三)W 开头
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wafer:晶圆片
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wait:等待
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WAT(Wafer Acceptance Test):晶圆测试
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wafer start:晶片投入
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wat bench:酸槽
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W(Tungsten):钨
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wiper:无尘布
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WIP(Work in Process):在制品
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well:井区
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warning:警告
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WPH(Wafer Per Hour):每小时机台产出晶片数
(二十四)Y 开头
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yield:良率
(二十五)Z 开头
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zero:零
三、按工作区域区分
(一)DIFF area 扩散区
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pad oxide:垫氧化层
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fild oxide:场氧化层
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BPSG(Boron Phosphorus Silicon Glass):含硼及磷的硅化物
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anneal:回火
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furnace:炉管
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gate oxide:闸氧化层
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density:密化
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backside etch:背面蚀刻
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nitride(Si3N4):氮化硅
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alloy:融合(电压与电流成线性关系,降低接触的阻值)
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TEOS(Tetraethyl Orthosilicate):四乙基氧化硅(在 IC 里通常当绝缘层使用)
(二)ETCH area 蚀刻区
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AEI(After Etch Inspection):蚀刻后检查
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ASI(After Strip Inspection):光阻去除后检查
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contact hole:接触窗
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descum:预处理
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dry clean:干洗
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SEM(Scanning Electron Microscope):扫描式电子显微镜
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end point:蚀刻终点
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under etch:蚀刻不足
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metal via:金属接触窗
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over etch:过蚀刻
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plasma:电浆
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season:暖机
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selectivity:选择比
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electrode:电极
(三)Implant area 植入区
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AMU(Atomic Mass Unit):原子质量数
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angle:角度
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beam-current:电子束电流
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depth:深度
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dose:剂量
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high voltage:高压
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high current:高电流
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high energy:高能量
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mid current:中电流
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magnet:磁场
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source head:电子源
(四)photo area 黄光区
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ADI(After Develop Inspection):显影后检查
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alignment:排成一直线,对平
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break:中断,stepper 机台内中途停止
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backside:晶片背面
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exposure:曝光
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HMDS(Hexamethyldisilazane):经去水烘烤的晶片,将涂上一层增加光阻与晶片附着力的化合物
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coating:涂布,光阻覆盖
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coater:光阻覆盖机台
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developer:显影液,机台
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diagnosis:诊断,stepper 机台执行侧机时的按键
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execute:执行
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flatness:平坦度
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focus:焦距
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offset:弥补
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local defocus:局部失焦(因机台或晶片造成的污染)
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overlay:测量前层与本层之间曝光的准确度
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pilot:实验的
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query:疑问
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rinse:湿润
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over flow:溢出
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spin dry:旋转干燥
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rotation:旋转
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WEE(Wafer Edge Exposure):周边曝光
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register:记录登记
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reticle:光罩
(五)Thinfilm area 薄膜区
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PVD(Physical Vapor Deposition):物理气相沉积
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IMD(Inter Metal Dielectric):内金属介电层
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ARC(Anti-Reflective Coating):防反射层
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RF(Radio Frequency):射频
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stress:内应力
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CVD(Chemical Vapor Deposition):化学气相沉积
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ILD(Inter Layer Dielectric):内层介电层
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sputter:溅射
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HDP(High Density Plasma):高密度等离子体
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TiN(Titanium Nitride):氮化钛
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Tape Out:流片
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Silicon:硅
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SOI(Silicon-on-Insulator):绝缘衬底上的硅
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GaAs(Gallium Arsenide):砷化镓
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InP(Indium Phosphide):磷化铟
(六)其他区域相关
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Wafer:晶圆
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Chip:芯片
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Die:晶粒
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Reticle:对准,和掩膜版大小一样
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Transistor:晶体管
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power semiconductor:功率半导体
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Full Mask:全掩膜
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Shuttle:每次 MPW 的时间
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SEAT:单次 MPW 最小面积
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Notch:缺口
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Pitch:中心距(间距)
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Spacing:间距
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CP(Circuit Probing、Chip Probing):晶圆测试
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FT(Final Test):终测、成测(对封装后的芯片进行定制化测试)
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Socket:测试夹具,芯片放置其中进行压针测试
四、制造工艺
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fabrication:制造
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lithography:光刻
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etching:刻蚀
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deposition:沉积
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implantation:注入
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diffusion:扩散
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oxidation:氧化
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annealing:退火
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cleaning:清洗
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planarization:平坦化
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photoresist:光刻胶
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mask:掩模
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exposure:曝光
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develop:显影
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etchant:刻蚀剂
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deposition system:沉积系统
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implanter:注入机
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diffusion furnace:扩散炉
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oxidation furnace:氧化炉
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annealing furnace:退火炉
五、测试与封装
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ATE(Automatic Test Equipment):自动测试机台
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GU(Golden Unit):样管数据
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packaging:封装
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probe:探针
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tester:测试机
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burn-in:老化测试
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functional test:功能测试
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parametric test:参数测试
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package type
:封装类型
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dual in-line package (DIP):双列直插式封装
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surface mount technology (SMT):表面贴装技术
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ball grid array (BGA):球栅阵列封装
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flip chip:倒装芯片
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wire bonding:引线键合
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die attach:芯片粘贴
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encapsulation:封装
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seal:密封
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reliability test
:可靠性测试
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environmental test:环境测试
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vibration test:振动测试
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thermal shock test:热冲击测试
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六、设备与工具
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equipment:设备
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tool:工具
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wafer handler:晶圆搬运器
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stepper:步进光刻机
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scanner:扫描光刻机
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etch tool:刻蚀设备
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deposition tool:沉积设备
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implanter tool:注入设备
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furnace tool:炉管设备
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probe station:探针台
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tester equipment:测试设备
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packaging equipment:封装设备
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clean room:洁净室
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air shower:风淋室
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gowning room:更衣间
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vacuum pump:真空泵
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gas cylinder:气瓶
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flow meter:流量计
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pressure gauge:压力表
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temperature controller:温度控制器
七、技术与性能
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yield:良率
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reliability:可靠性
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high performance:高性能
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low power:低功耗
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high speed:高速
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high yield:高良率
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high reliability:高可靠性
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advanced technology:先进技术
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cutting-edge technology:前沿技术
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process technology:工艺技术
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device technology:器件技术
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packaging technology:封装技术
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test technology:测试技术
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performance parameter:性能参数
八、行业术语与概念
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research and development (R&D):研发
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intellectual property (IP):知识产权
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fabless:无晶圆厂
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foundry:晶圆代工厂
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IDM (Integrated Device Manufacturer):集成器件制造商
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semiconductor ecosystem:半导体生态系统
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supply chain:供应链
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market share:市场份额
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growth rate:增长率
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trend:趋势
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forecast:预测
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emerging technology:新兴技术
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disruptive technology:颠覆性技术
九、电路与系统
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circuit:电路
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system:系统
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digital circuit:数字电路
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analog circuit:模拟电路
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mixed-signal circuit:混合信号电路
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integrated circuit design:集成电路设计
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circuit simulation:电路仿真
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system-on-chip (SoC):片上系统
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system-in-package (SiP):系统级封装
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printed circuit board (PCB):印刷电路板
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layout:布局
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routing:布线
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power management:电源管理
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signal processing:信号处理
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clock:时钟
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reset:复位
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interrupt:中断
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bus:总线
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serial communication:串行通信
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parallel communication:并行通信
十、半导体物理
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electron:电子
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hole:空穴
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semiconductor physics:半导体物理
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quantum mechanics:量子力学
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solid-state physics:固体物理
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chemical vapor deposition (CVD):化学气相沉积
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physical vapor deposition (PVD):物理气相沉积
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atomic layer deposition (ALD):原子层沉积
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doping:掺杂
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conductivity:导电性
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resistivity:电阻率
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dielectric:电介质
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capacitance:电容
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inductance:电感
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magnetic field:磁场
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electric field:电场
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potential difference:电位差
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voltage:电压
十一、专业术语缩写
(一)器件相关
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CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor):互补金属氧化物半导体
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MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor):金属氧化物半导体场效应晶体管
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MPW(Multi Project Wafer):多项目晶圆
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DRAM(Dynamic Random Access Memory):动态随机存取存储器
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SRAM(Static Random Access Memory):静态随机存取存储器
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Flash:闪存
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CPU(Central Processing Unit):中央处理器
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GPU(Graphics Processing Unit):图形处理器
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FPGA(Field Programmable Gate Array):现场可编程门阵列
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ASIC(Application Specific Integrated Circuit):专用集成电路
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RF(Radio Frequency):射频
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FinFET(Fin Field-Effect Transistor):鳍式场效应晶体管
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GAAFET(Gate-All-Around Field-Effect Transistor):环绕栅极场效应晶体管
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HKMG(High-K Metal Gate):高介电常数金属栅极
(二)测试相关
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ATE(Automatic Test Equipment):自动测试机台
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GU(Golden Unit):样管数据
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CP(Circuit Probing、Chip Probing):晶圆测试
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FT(Final Test):终测、成测
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ADC(Analog-to-Digital Converter):模数转换器
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DAC(Digital-to-Analog Converter):数模转换器
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PLL(Phase Locked Loop):锁相环
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VCO(Voltage Controlled Oscillator):压控振荡器
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LDO(Low Dropout Regulator):低压差线性稳压器
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ESD(Electrostatic Discharge):静电放电
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EMI(Electromagnetic Interference):电磁干扰
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DFT(Design for Testability):可测试性设计
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BIST(Built-In Self-Test):内建自测试
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JTAG(Joint Test Action Group):联合测试行动组
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ATPG(Automatic Test Pattern Generation):自动测试向量生成
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DRC(Design Rule Check):设计规则检查
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LVS(Layout Versus Schematic):版图与原理图一致性检查
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ERC(Electrical Rule Check):电气规则检查
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STA(Static Timing Analysis):静态时序分析
(三)封装相关
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DIP(Dual In-line Package):双列直插式封装
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SMT(Surface Mount Technology):表面贴装技术
-
BGA(Ball Grid Array):球栅阵列封装
-
flip chip:倒装芯片
-
wire bonding:引线键合
-
die attach:芯片粘贴
-
encapsulation:封装
-
seal:密封
-
package type:封装类型
-
CSP(Chip Scale Package):芯片级封装
-
MCM(Multi-Chip Module):多芯片模块
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SIP(System in Package):系统级封装
(四)其他
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PDK(Process Design Kit):工艺设计套件
-
EDA(Electronic Design Automation):电子设计自动化
-
RTL(Register Transfer Level):寄存器传输级
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NPI(new product introduction):新产品导入
-
DOE(Design of Experiments):实验设计
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SPC(Statistical Process Control):统计过程控制
-
Six Sigma:六西格玛
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Cpk(Process Capability Index):过程能力指数
-
ppm(Parts Per Million):百万分之一
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I/O(Input/Output):输入 / 输出
-
GPIO(General Purpose Input/Output):通用输入 / 输出
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SPI(Serial Peripheral Interface):串行外设接口
-
I2C(Inter-Integrated Circuit):集成电路总线
-
UART(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter):通用异步收发器
-
CAN(Controller Area Network):控制器局域网络
-
USB(Universal Serial Bus):通用串行总线
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HDMI(High-Definition Multimedia Interface):高清多媒体接口
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SD(Secure Digital):安全数字卡
-
NOR flash:或非闪存
-
NAND flash:与非闪存
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MLC(Multi-Level Cell):多层单元闪存
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EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory):电可擦可编程只读存储器
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ROM(Read-Only Memory):只读存储器
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RAM(Random Access Memory):随机存取存储器
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SRAM(Static Random Access Memory):静态随机存取存储器
-
DRAM(Dynamic Random Access Memory):动态随机存取存储器
-
PCM(Phase Change Memory):相变存储器
-
CMP(Chemical Mechanical Polishing):化学机械抛光
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RIE(Reactive Ion Etching):反应离子刻蚀
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ICP(Inductively Coupled Plasma):感应耦合等离子体
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MBE(Molecular Beam Epitaxy):分子束外延
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MOVPE(Metal Organic Vapor Phase Epitaxy):金属有机气相外延
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SOI(Silicon on Insulator):绝缘体上硅