OpenCV与AI深度学习 | 基于GAN的零缺陷样本产品表面缺陷检测

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原文链接：基于GAN的零缺陷样本产品表面缺陷检测

来源 | 智造情报局

00 导读

缺陷检测是工业生产过程中的关键环节，其检测结果的好坏直接影响着产品的质量。而在现实场景中，但产品瑕疵率非常低，甚至是没有，缺陷样本的不充足使得需要深度学习缺陷检测模型准确率不高。如何在缺陷样本少的情况下实现高精度的检测呢？目前有两种方法，一种是小样本学习，另一种是用GAN。本文将介绍一种GAN用于无缺陷样本产品表面缺陷检测。

深度学习在计算机视觉主流领域已经应用的很成熟，但是在工业领域，比如产品表面缺陷检测，总感觉没有发挥深度学习的强大能力，近几年表面缺陷的 相关研究主要是集中在各种借鉴主流神经网络框架，从CNN到YOLO，SSD，甚至到语义分割的FCN相关论文，通过一些技术，对框架进行轻量化，对缺陷进行分类或检测。不过，逃不出一个问题：一定要有缺陷样本可供训练，而且数量不能太少！当然，也有一些课题组使用稀疏编码、字典学习、稀疏自编码等对表面缺陷进行检测，这类方法很有局限性，主要针对那些有周期性背景纹理的图像，比如丝织品，印刷品等。国内外很多课题组、工业软件公司都想开发出一些切合实际应用的算法软件，在缺陷检测领域，比较好的公司有：VIDI、Halcon等，听说海康威视也在搞工业产品方便的算法研究。

论文标题：A Surface Defect Detection Method Based on Positive Samples

论文链接：https://doi.org/10.1007/978-3-319-97310-4_54

作者提出只依据已有的正常表面图像样本，通过一定的技术手段对缺陷样本进行检测，很好的将最近研究火热的GAN应用于框架中，这一年，课题组的老师也一直讨论这种方法的可行性&#