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在FIR滤波器最优化设计中，常用的准则有：（1）均方误差最小化原则滤波形成的时域波形和理想滤波器形成的时域波形，其均方误差最小。（2）最大误差最小化原则（最佳一致逼近原则）一般来说，截止速度越快，平坦度要求越高，则阶数越高。同等要求下，IIR阶数比FIR低。

首先明确，负频率有其明确的物理意义。和速度类似，逆顺时针旋转则拥有正角速度，顺时针旋转则拥有负角速度。对于一个实数信号而言，对其进行傅里叶变换。其负频率和正频率是共轭的。傅里叶变换，可以将一个信号分解为多个exp(jwt)之和。如果我们把它放在复平面和时间组成的三维空间中。我们举最简单的例子，cos(w0t),他的傅里叶变换是pi*(delta(w-w0)+delta(w+w0))

（1）吉布斯现象 将具有不连续点的周期函数（比如说矩形函数）进行傅里叶变换时，会产生过冲，但是随着N的增加，对于任意有限的N,起伏的峰值保持不变。 （2）在方波通过RC电路时，相当于低通，此时，越高频的信号衰减越大，而且相位滞后越多，形成了不对称的波形。 这边是方波的圆角现象。 （3）如果对高频谐波衰减不足，或者对低频存在衰减，就会产生过冲。

（1）应力和应变应力的单位和压强相同。将固体在直角坐标系x1，x2，x3,中划分为体积可以忽略的正方体体积元，设物体受力为Fij，其中，i为所受力的面，j为所受力的方向。所以体积元共受9个力，可以写成3*3的矩阵，其中F(i,j)=F(j,i),在这里不做证明，所以一共有6个独立分量。（2）广义胡克定律F(i,j)=c(i,j,k,l)*e(k,l)

（1）声波方程a 推导声波方程依赖的是理想气体在绝热过程中的物态方程。动量守恒定律和质量守恒定律。b 可以看做一过程，声压变化引起质点变化，从而产生质点振速在空间上的微分不等于0，从而导致下一个局部的声压变化（2）介质的特征阻抗（声阻抗率）的定义为压强比上质点振动速度。声阻抗率等于介质密度乘以介质中的声速。（3）能量密度和能流密度的比定义为能流速度。（4）能流密

（1）标量是0阶张量，其值与坐标系的选取无关如质量等（2）矢量是1阶张量如速度。应力，应变等（3）爱因斯坦求和约定如果在表达式的某些项中，相同下标出现两次，则要对指标范围内进行求和。例如（括号里的视为下标，i可取1,2,3）a(i)b(i) = a(1)b(1)+a(2)b(2)+a(3)b(3)（4）高阶张量源自于低阶张量的梯度和并积

波动方程式偏微分方程，偏微分方程没有通用的解法，但是达朗贝尔街满足波动方程u(x,t)=u1(x-ct)+u2(x+ct)式中，u1和u2是任意的两个函数。若对于稳态场，其复包络满足亥姆霍兹方程.

在极坐标系中，波动方程和在直角坐标系中表示形式相同，只不过哈密顿算符的表示不同。在极坐标系中，利用亥姆霍兹方程求解稳态复包络。可以得到一个m阶的贝塞尔方程贝塞尔方程是二阶常微分方程，m阶的贝塞尔方程是m阶的贝塞尔函数和m阶的诺艾曼函数，及其两种线性组合：第一种汉克函数和第二种汉克函数。所有这些函数统称为柱函数。此时，m为阶数，也是圆周方向上的周期数。实际的稳态声场（无限大），应该是

声波的概念很多，纵波，横波，sh波，sv波，兰姆波，瑞利波，导波，声表面波。。。。发现很多人存在用词不规范，认识不清晰的情况，特写此文。声波首先有体波，体波包含p波（体纵波）和s波（体横波）。在s波中根据偏振方向不同分为sh（水平偏振）sv（垂直偏振）然后声波中还有表面波，表面波包含瑞丽波和乐普波。瑞丽波较为常见，它实际上是横波和纵波的合成。然后声波包含导波，比如说板波，板波中最主要的

fortran对格式要求非常严格每行代码必须在80列内完成，其中1~5列为标号区。如果第一列为*或者c，则说明本行为注释行第6列为续行标志区，为非0字符或者非空格表示该行被续行。7~72列为语句区，每行只能写一个语句73~80列为注释区在为变量起名字的过程中，以i，j，k，l，m，n开头为整形变量。以其他字母开头的变量为实数变量。也可以显示说明变量类型变量名不区

铁磁性材料被此话后，由于工件存在不连续性，则工件表面和近表面会发成畸变产生漏磁场，媳妇施加在表面的磁粉，在合适的光照条件下，会产生可见的磁痕，从而显示出不连续性的大小，位置，形状和严重程度等。磁粉检测有三个必须步骤（1）被检验的工件必须得到此话（2）必须在此话的工件上施加合适的磁粉（3）对任何的磁粉堆积必须加以观察和解释局限性：（1）只能检测铁磁性材料及表面，近表面

检测时，将溶有荧光染料或着色染料的渗透液施加到零部件表面，由于毛细作用，渗透液渗入到细小的表面开口缺陷中。清除附着在工件表面多余的渗透液，经干燥后加显像剂，缺陷中的渗透液在毛细作用下被重新吸附到零件表面，就成了放大了的缺陷显示。局限性不能用于检查多孔或疏松材料或者表面粗糙的工件。

在无损工业总常用的是透射层析成像技术（ICT），一般以X射线，r射线作为辐射源。

声发射是指物体在外界的作用下，缺陷或物体异常部位因为应力集中而产生变形或者断裂，并以弹性波的方式释放出应变能的一种现象。声发射要具备两个条件（1）物体要受外载作用（2）物体内部结构和缺陷要发生作用局限性：结构必须承载才能进行检测；定位精度不高；对裂纹类型只能给出有限信息。

中子射线照相技术与x射线和r射线照相技术类似，都是利用射线对物体有很强穿透力的特征，实现对物体的无损检测。中子射线和X射线是互为补充的。

（1）探头的分类根据产生超声波波形不同，分为纵波探头（直探头，平探头），横波探头（斜探头，斜角探头），表面波探头根据探伤方法区分，分别为接触探头，水浸探头还有一些特殊探头，如发射和接收由两个晶片分别承担的双片探头（联合双探头），也称作双晶片探头，有直探头，也有斜探头声束可以聚焦的，聚焦探头入射角度可以变化的，可变角度探头（2）纵波探头纵波探头由保护膜，雅典晶片，

压电陶瓷材料的主要性能及参数自由介电常数εT33（free permittivity）电介质在应变为零（或常数）时的介电常数，其单位为法拉/米。相对介电常数εTr3（relative permittivity）介电常数εT33与真空介电常数ε0之比值，εTr3=εT33/ε0，它是一个无因次的物理量。介质损耗（dielectric loss）电介质在电场作用

一下介绍IIW试块，由荷兰人提出，在1958年有国际焊接学会通过材质要求，要求使用20号碳钢制作，晶粒度为7-8级，采用正火进行热处理，要求表面光洁，达到至少五级表面光洁度。用途如下（1）检验探伤仪的时基线性通过测量多次底波反射，来确定时基。（2）调整纵波探测范围（3）测定远距离分辨能力（4）测定斜探头入射点

（1）对任何有限时长的信号进行频谱分析都需要截断，也就是加窗，什么都不加相当于矩形窗。由于时域相乘等于频域卷积，而任何窗函数的都是频域上无限分布的（当然有限时长的信号在频域上也是无限分布的）。对有限带宽的信号而言，加窗会将频谱扩大到整个频域，对于无限带宽的有限时长信号而言，加窗同样会导致所谓频谱泄露，即让频域信号分布的更加分散。（2）在窗函数的选择上，旁瓣低，主瓣窄，没有负谱可以提高频谱分析的精度，