芯片缺陷检测项目

Tips：需要了解项目细节或者相关技术支持，以下是联系方式。

邮箱：740595707@qq.com

 Github源码：https://github.com/dlphay/halcon_dlphay

 （源码中去掉了部分核心代码，需要核心代码通过邮箱联系）

机器视觉项目----芯片缺陷检测

01 应用与背景

封装体检测的内容包括（括号内数字为检测编号）：刮痕（00）、污迹（01）、破损（02）、未灌满（03）、
外溢（04）共 5 项检测内容。
印记检测的内容包括（括号内数字为检测编号）：错字（10）、偏移（11）、漏印（12）、多印（13）、
模糊（14）、倾斜（15）、位移（16）、断字（17）、双层印（18）、无字模（19）共 10 项检测内容。
管脚检测