全网最全！AFM数据处理软件Nanoscope Analysis安装教程（附安装包），以及使用教程！...

目录

1. 软件下载

2. 软件介绍

3. 安装教程

4. 使用教程

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软件下载

[软件名称]：Nanoscope Analysis

[界面语言]：英文

[安装环境]：Win11/Win10/Win9/Win8/Win7

[系统位数]：64位

[软件类型]：AFM数据处理软件

[下载链接]：宫中号回复【Nanoscope Analysis】查看完整安装教程及使用教程

解压密码在宫中号【元素魔方科研服务】获取https://pan.baidu.com/s/1JwXUKs-cZkey1rfsVC5vDg?pwd=1234

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软件介绍

Nanoscope Analysis是一个原子力显微镜配套数据处理软件，用户可以使用这款软件对图片进行分析处理操作，软件提供了实用的图像处理和分析、实用的游标分析、颜色表编辑、线性验证等功能，分析模式也非常多，支持不同地区的规范分析，可以基于时间分析、曲线和高水平分析，并且可以将图形数据的结果保存为模型数据。      

安装教程

注意事项

①解压安装包和软件安装时，关闭杀毒软件，否则安装文件容易被误删除；

②安装软件时，要右击压缩包，把压缩包解压出来，不要直接双击压缩包；

③安装包及软件安装路径，最好是英文或数字，如有中文路径，容易报错；

1.解压拿到的软件

2.右击，使用管理员身份运行

3.点击Next

4.选择I accept，Next

5.设置安装文件夹

6.进行安装即可

7.安装中

8.有拦截的，统一放行

9.安装完成

10.直接从桌面打开软件即可

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使用教程

使用Bruker，Digital Instruments以及Veeco公司AFM仪器测试的数据可以使用该软件处理。

数据文件一定要放在 “纯英文”目录下，否则用该软件打不开。

例如：D:\Data\石墨烯    这个不可以

         D:\Data\Graphene  这个可以

1. 数据导出

数据导出有多种方式。第一种点击 （Journal Quality Export），再点击【Export】，参数也可设置。

第二种，右键点击数据图，选择【Export】,导出图为界面显示的图。

第三种，右键曲线数据，选择【Export】，可选择导出数据和图片。

2. 数据处理

（1）Flatten  

Flatten处理的实质是通过多项拟合每一条扫描线，修正图像的信号失真。

0阶拉平：去除不同扫描线之间的错位

1阶拉平：去除错位同时补偿扫描线倾斜（一阶函数），斜面拉平

2，3阶拉平：补偿弧形或波浪线扭曲，曲面拉平

如图所示为拉平处理后的2D和3D图像，效果还是很明显的。

当然拉平操作不局限于整体，可以进行选区操作，左键在数据图上拖动即可完成选区，后续操作相同，这里不再演示。

 

（2）PlaneFit   

同样是进行图像拉平处理，不过，不同于Flatten，Plane Fit 不是针对每条扫描线进行拉平，而是针对整个平面进行拉平处理

(3) Erase  

可去除跳线（噪音信号）,方法是点击，在跳线位置拉取多条擦出线，点击【Execute】.展示图为跳线处理前后图。

（4）Crop and Split  

截图功能，截图之后可以另存为一个新的原始数据文件。

（5）2D Image 和3D Image

实现2D数据和3D数据转换，

（6）Roughness

表面粗糙度计算，可以得到全图粗糙度和选区粗糙度，Rq:均方根粗糙度和Ra:平均值粗糙度，二者均可，在使用时同组数据保持一致就行。

如果需要获得平均高度/表面电势/模量值（在软件左侧，一般都只有高度，误差和相图），软件选中高度/表面电势/模量图，直接点击roughness，里面有个image mean，就是图像的平均高度/表面电势/模量值，在图像中框个框，mean就是框中的平均高度/表面电势/模量值。

（7）Section (截面/纳米片厚度分析)   

测量高度和距离。

（8）Step   

台阶高度分析，与Section功能类似，但是是取平均值，对框中区域内垂直方向做一个平均值。

（9）Particle Analysis  

适合纳米颗粒比较多的数据。Threshold height(阈值高度)，选择一个阈值高度，图像会把高于阈值高度的颗粒都标出来，并显示颗粒的高度，直径，表面积等数据

（10）颜色对比度调整

双击右侧标尺，即可对图像进行修改。