1576_AURIX_TC275_MTU控制与状态寄存器

全部学习汇总： GreyZhang/g_TC275: happy hacking for TC275! (github.com)

1. 在这一页之前，连续有好几个寄存器都是预留的，因此可以直接跳过。
2. 访问使能寄存器的功能，从描述看其实是非常熟悉的，因为这个描述的模板可以从之前刚刚看完的SCU模块的文档中找到。

这个表格是对前面看过的一系列寄存器的功能以及地址偏移等信息进行了总结，看其他模块的时候也可以看到类似的模式信息。

每一个MBIST/ECC寄存器都有一个专用的CPU接口。

1. 相关的寄存器可以通过16bit的SPB来进行访问，因此从表象上看MTU的寄存器像是一个16bit系统的设计。
2. 寄存器的位域大小以及内容取决于实际的物理存储大小，默认设置使能了所有的物理RAM的填充/测试，因此相应的寄存器描述显示出来了最大的状态。
3. 配置寄存器可以设置支持的检测方式，所有的测试可以做到在测试的过程中不修改，因此是一个无损模式的测试。寄存器气功启动的操作以及结束的标致，作为一种握手形式的设计。

1. 如果没有任何操作配置，那么只有开始与完成的握手操作。
2. reset之后，默认执行写0读0的检测操作。
3. 下面的配置寄存器，可以配置每一个地址单元的操作次数以及访问类型。

寻址生成模式中，有一个无损坏的反演测试模式。从这里看，难道其他的都是有损的测试？那么前面描述中提到的测试中bits保持不变只是一个特殊情况？

1. 这里提供了汉明距为1bit的时候的寻址bit位以及访问模式。
2. 这两个配置中有一些比较专用的术语，理解起来有一些困难，后面针对这部分还得专门去深入了解一下。