高光谱成像技术为诸如智能手机和平板电脑等消费类电子显示器的色彩测量提供了一种有效的解决方案。
显示技术性能的快速提高使得需要更好的度量工具来确保色彩和均匀性的准确呈现。
几十年来,低成本,简单的3色滤光片成像仪器对阴极射线管(CRT)RGB监视器的有限色域进行了评估。四色,LCD,OLED和类似的新技术的出现,同时也伴随着更高的消费者意识和对性能的期望,因此需要更精确的成像仪器来执行此类关键测量。
传统上,根据国际照明委员会(CIE)定义的颜色图或空间中的各种坐标系对颜色进行量化。最常见的是x,y和u’,v’。这些地图和其相应的坐标从基于人类观察者的颜色匹配函数得到的从1931年进行的实验和1 976 1,2
根据RGB滤波器的测量结果,可以随后使用简单的代数方程从地图中计算出坐标:
高性能分光辐射计通过引入基于色坐标的光谱测量结果,提供了急需的精度改进,因为色彩匹配功能的测量比仅近似响应的滤光片更精确。这些可以看作是加权函数,可以根据这些加权函数精确地计算出坐标:
但是,除非借助台架或机械手在整个样品区域进行物理扫描,否则此类仪器只能进行现场测量。这使得评估诸如色彩均匀性之类的特征的空间依赖性变得困难,费时且昂贵。高光谱成像提供了一种解决方案,结合了能力成像色度计的优势,可以在一次测量中捕获整个区域