仪器仪表介绍---频域和时域同时展现是一种什么体验？

摘要

示波器和频谱仪都是电子测试测量中必不可少的测试设备，分别用于观察信号的时域波形和频谱。时域波形是信号最原始的信息，而频谱的引入主要是为了便于分析信号，比如谐波和杂散的测试，从时域上很难观察到，但是从频域就可以非常明了的区分开。示波器除了具有采集信号的基本功能，还可以对信号进行FFT 变换得到频谱，从而兼具频谱分析功能。几乎所有的中高端示波器均支持FFT 频谱分析。本文将要介绍的频谱分析功能——Spectrum View，是一款功能强大的频谱分析工具，它的引入开启了全新的时频域信号分析。

结合了TEK049 ASIC 创新平台及TEK061 低噪声前端放大芯片的频谱模式-- Spectrum View 是获得高动态、低噪底的强有力保证。

Spectrum View 特性

从实现方法上讲，Spectrum View 也是采用FFT，但并不是直接处理采集的样点，而是先通过数字下变频(DDC 技术) 得到IQ 数据，然后经过FFT 得到信号频谱。这也是相对于传统FFT 的一大特色。与原始采集信号相比，IQ 信号携带的频率要低很多，对IQ 数据重采样无需太高采样率，大大降低了数据量，提高了处理速度。

无论与频谱仪比较，还是与示波器传统的FFT 方法相比，Spectrum View 都具有自己的特色：

• Spectrum View使得时、频域捕获时间相互独立，当设置较小的RBW时依然可以保证示波器的处理速度。传统FFT测试需要通过调整水平时基来改变RBW，在要求RBW很小的测试场景，需要增大水平时基，严重影响了示波器处理速度。

• Spectrum View具有标准频谱仪的操作设置，如图2所示，具有更友好的交互界面，可以直接设置中心频率、Span、RBW及时域窗口的类型。

• Spectrum View支持丰富的探测方式，且能够测试极低频率信号频谱，是普通频谱仪所不能及的；

• 支持多通道时、频域联合分析，而且支持触发捕获，使其可以分析瞬态或者间歇性信号的频谱；

• 支持多种时间窗类型，可以根据待测信号的特性进行选择，以保证测试结果的精确性；

• 支持峰值自动搜索功能，可以设定峰值搜索阈值，可显示多达11个Peak Marker；

• 支持Normal、Max. Hold、Min. Hold以及Average等四种迹线显示模式；

• 当显示多个通道的频谱时，既可以“堆栈 (Stacked) ”显示，也可以“重叠 (Overlay) ”显示；

• 所有通道具有相同的Span、RBW、FFT Window及Spectrum Time，但中心频率可以独立设定。

时频域并行分析

图3 给出了信号采集和处理架构示意图，模拟信号经过ADC 转换为数字信号后，时域和频域是并行处理的，从而可以独立设置时域和频域捕获时间。Spectrum View 支持滑动Spectrum Time 的位置，对不同时段的信号作频谱测试，这使得对信号进行时频域联动测试成为可能。

作为示例，图4 给出了一个跳频信号分析结果，同时给出了时域波形、频谱及跳频序列的结果。图中红色标记处为Spectrum Time，即用于FFT 分析的时间，其位置是可以移动的，测试的频谱就是当前位置对应的频谱。拖动Spectrum Time 的位置，可以分别对不同的频点进行观测，当前观测的是频率切换过程中的频谱变化。

多通道频谱测试

频谱应用过程中，Spectrum View 与频谱仪FFT 模式下的数据处理过程相同，虽然测试动态不如频谱仪，但是Spectrum View 有着自己的优势，比如可以测试极低频率的信号，具有丰富灵活的探测方式，以及时频分析的相关性。此外，Spectrum View 还支持多通道频谱测试，这得益于TEK049 支持同时对每个通道的信号作频谱分析处理。

类似于TEK049 的多通道时域波形显示方式，所激活的频谱既可以“堆栈 (Stacked) ”显示，也可以“重叠 (Overlay) ”显示。图5 同时观测了两个通道的时域波形及频谱，并且采用了重叠显示，以便于频谱之间的对比。

所有通道的频谱共用相同的Span、RBW、FFTWindow 及Spectrum Time，这一点与时域要求多通道间共用采样率、水平时基及触发类似。尽管如此，各个通道的中心频率可以独立设置，默认是联动的，也可以根据需要设置为不同值。

Spectrum View 支持自动搜索峰值，最多支持11 个Peak Marker， 幅值最大的频点自动标记为“Ref.Marker”，其它Marker 的频点和幅值可以显示为绝

对值，也可以显示为相对于“Ref. Marker”的相对值。如果所需要的Marker 数目超过限制，还可以通过使用频域的cursor 确定频率和幅值。

数字下变频 (DDC)

基于TEK049/TEK061 创新平台的Spectrum View 频谱分析功能，采用了数字下变频技术，得到数字IQ信号后再进行FFT，从而保证了频谱测试的灵活性和快捷性。图2 给出了信号采集和处理架构示意图，模拟信号经过ADC 转换为数字信号后，时域和频域是并行处理的，使得时域和频域捕获时间可以独立设置。

数字下变频广泛应用于无线通信系统中，下变频的过程如图3 所示，包括数字IQ 解调、低通滤波和样点抽取 ( 或称为重采样) 等功能部分。数字IQ 解调器的本振频率与Spectrum View 中设置的中心频率相同，从而完成载波对消得到零中频信号；低通滤波器用于滤除高阶混频产物，最后经过样点抽取得到IQ 信号。

Spectrum View 处理的是数字IQ 信号，这也是相对于传统FFT 的一大特色。相对于原始采集信号，IQ信号携带的频率要低很多，对IQ 数据重采样无需太

高采样率，大大降低了数据量，而捕获时间 (SpectrumTime) 又不受影响，即使需要较低的RBW，仍然具有非常高的处理速度。

为了便于理解，图4 给出了对I/Q 样点重采样的示例，假设重采样率为原始采样率的1/5，重采样的过程就是从5 个原始样点中抽取一个样点的过程，该过程并没有改变相对时序关系，这意味着经过样点抽取后，相同的样点数目具有更大的Spectrum Time，从而实现高频率分辨率。

频谱泄露 (Spectral Leakage)

FFT 变换是在一定假设下完成的，即认为被处理的信号是周期性的。图5 给出了一正弦信号的采集样点波形，如果对Frame 1 做FFT 运算，则会对其进行周期扩展。显然，在周期扩展的时候，造成了样点的不连续，样点不连续等同于相位不连续，这将导致产生额外的频率成分，该现象称为频谱泄露。

频谱泄露产生了原本信号中并不包含的频率成分，如图6 所示，信号的频率本应只在虚线位置，但由于样点不连续，FFT 之后导致产生了诸多频率点，如图所示的实线位置。频谱泄露会扰乱测试，尤其在观测小信号时，较强的频谱泄露成分可能淹没比较微弱的信号。

如何避免或者降低频谱泄露呢？这就需要使用下文介绍的时间窗 (Window) 技术。

时间窗 (Window)

如果能够消除样点不连续，就可以消除频谱泄露。为了实现这一点，需要引入时间窗 (Window)，时间窗包含的样点数目与信号相同，而且两端的样点值通常为0。

在FFT 之前，时间窗与波形相乘，周期扩展后可以保证样点的连续性。

时间窗相当于一个滤波器，不同的时间窗具有不同的频响特性，比如边带抑制、矩形因子等，相应的幅度测试精度也不同。虽然基于FFT 的频谱分析中没有IF filter，但是依然有RBW 的概念，时间窗就决定了RBW 的形状和大小。

常见的时间窗类型包括：Kaiser、Rectangular、Hamming、Hanning、Blackman-Harris、Flat-Top 等。

作为示例，图8 给出了Kaiser 时间窗的时域波形及幅频响应，其中幅频响应的3dB 带宽即为RBW。RBW 称为分辨率带宽，决定了频率分辨率，RBW 越

小，分辨率越高。RBW 与时间窗宽度 ( 即SpectrumTime) 成反比，但即使时间窗宽度相同，不同的时间窗类型对应的RBW 也不同，存在一个因子k，满足如下关系：

表格1 给出了不同时间窗类型对应的比例因子(Window Factor)。

Spectrum View 支持多种时间窗，那么测试时如何选择时间窗呢？

不同类型时间窗的应用场合也不相同，应根据待测信号的特点加以选择。表格2 分别从频谱泄露、幅度测试精度及频率分辨率三个方面加以对比。值得一提的是，除了Rectangular 时间窗，其它窗口类型均适用于宽带调制、宽带噪声信号的频谱测试。

小结

文中介绍的Spectrum View 功能，侧重描述了所采用的数字下变频技术及其相对于示波器传统FFT 测试频谱的优势。对于FFT 过程中可能遇到的频谱泄露效应，为什么采用时间窗可以进行规避或减弱，时间窗与分辨率带宽RBW 有什么关系，以及测试不同的信号时，应该如何选择时间窗，这些内容文中都有所描述。通过文中的介绍，可以使用户更好地理解和掌握Spectrum View 的应用。推荐观看视频演示，了解如何利用示波器 Spectrum View 功能演示多通道信号频谱分析。

硬十

文中展现的试验和功能，所使用的产品是：MSO6B 

1、高带宽：1 GHz至10 GHz带宽对高速设计进行故障排除和验证。

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