[STM32F4]调试工具之 J-Scope

今天想介绍一下Segger公司的一款调试神器，你不需要集成任何源代码到你的目标工程里面去，就可以查看目标板运行时，嵌入式系统里面的各种变量，并且以波形实时显示出来，而且可以导出记录的数据，方便做数据分析。

  第一步，上www.segger.com官网下载J-Scope软件或者我根据我下面提供的百度云盘链接。这一款软件目前只支持J-Link,上篇所讲的STMstudio只支持Stink。大家注意区分。

  第二步，编译目标工程，根据编译器生成不同后缀文件，支持axf、elf、out文件，Keil MDK-ARM：编译之后，会在你工程中Objects目录下生成一个.axf调试文件，IAR EWARM：编译之后，会在你工程中Exe目录下生成一个.out调试文件，我们以Keil MDK-ARM为例进行讲解，芯片为STM32f407ZGT6烧录程序文件到目标板；

  第三步，安装好J-Scope后，运行J-Scope程序，选择新建工程，进行配置，如图1所示：

图1 J-Scope配置

其中：

（1）设置目标板微处理器架构，目前支持Cortex-M0，M1，M3，M4，M7， RX100，RX200和RX600构架微处理器,Stm32为M4系列，因此选择Cotrex-M4。

（2）设置是J-Link和目标板的连接速率，选择3000Khz

设置模式，我们选择HSS模式即可，RTT模式需要添加代码。HSS速度比HSS要慢。

设置是采样率，采样率高的话，导出的数据文件会很大，如果只是想查看数据波形，采样率应该是高一点好；

（4）找到编译目标工程后生成的axf文件，文件路径最好不要有中文，不然会出现莫名Bug。

   第四步，配置好后，选择你需要监视的变量，每个源文件里面的全局变量都可以选择,如图2，我监测全局变量t的累加值：

  对要监测的变量打钩。

图2 J-Scope监视变量选择

   第五步，单击采样按钮，开始监视第四步选择的变量，如图3所示：我们可以看到t的数值在慢慢增加。

图3 J-Scope波形数据记录与显示

   最后，我们也可以把记录下来的数据导出来，导出数据文件为csv格式，数据内容如图4所示：

  

  我们对数据格式进行整理即可，左边是时间，右边是数据。

  以上就是对J-Scop介绍，如有错误，请大家指教。
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作者：woai32lala
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