IGBT测试

一、双脉冲测试。

双脉冲测试硬件的基本框图如上图所示。

高压源通过叠层母排与电容池连接，并给电容池充电。

低压源给驱动板供电，信号发生器给驱动板发双脉冲。

若发双脉冲到IGBT模块下管，则上管截止；若发双脉冲到IGBT模块上管，则下管截止。

当下管导通时，电容池给空心电感充电；当下管截止时，空心电感与上管的二极管构成回路并续流。

二、短路测试。

仍然使用双脉冲测试的框图。

有两种短路测试方法：

1、上管常开，下管发单脉冲。

2、上管常闭且CE极接粗短铜排，下管发单脉冲。

单脉冲脉宽时长应该从小开始逐步增大，最好不超过10us。

三、QG测试。

使用电流源给Cge充电，一段时间后，给Cgc充电。Cgc充电期间为米勒平台。

IGBT模块上的QG，可能是通过仿真得到。

QG测试用于衡量驱动板的功耗，其测试结果并不十分准确。